$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

도움말도움말
상세검색 다국어 입력

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

MyON담기
내보내기 페이스북 공유 카카오톡 공유

Hub hole characterization system

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G06F-015/46    G06F-015/70    G01B-021/30   
미국특허분류(USC) 364/506 ; 33/504 ; 356/376 ; 358/107
출원번호 US-0754543 (1985-07-12)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 8
초록
▼

A method and apparatus for characterizing a central circular aperture of a workpiece, for example a flexible information storage disk. The apparatus utilizes a noncontact sensor system having a rotary stage upon which the workpiece is placed. A reference edge extending approximately to the axis of rotation of the stage serves as a reference point from which a laser beam measures a plurality of radial distances extending from the reference edge to a plurality of points about the disk\s central aperture. A computer utilizes these distances along with a kno...

대표
청구항
▼

Apparatus for characterizing the roundness of a workpiece aperture, said apparatus comprising: (a) a rotary stage adapted to receive a workpiece having an aperture to be characterized, said rotary stage including a central aperture surrounding the workpiece aperture; (b) a reference surface mounted to provide a fixed radial reference point approximately at the axis of rotation of said rotary stage; (c) movement means for incrementally rotating said rotary stage, to rotate the workpiece in a stepwise manner around the fixed radial reference point; (d) a n...

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Kosmowski, Wojciech; Eddy, Richard; O'Neill, Martin. Apparatus for determining the parameters of figures on a surface. USP1983044379308.
  2. Tatsumi Youji (Funabashi JPX) Hachisu Masuo (Narashino JPX). Apparatus for measuring the waviness of a workpiece surface. USP1980014184263.
  3. Taylor Russell H. (Ossining NY). Device and method for determining the location and orientation of a drillhole. USP1984114485453.
  4. Turnbull David F. (Glenrothes GB6). Disc eccentricity measuring means. USP1982064334276.
  5. Hurt James J. (Bettendorf IA). Inspection system and apparatus therefor. USP1981104296474.
  6. Musto Dominick J. (Middlesex NJ) Lerner Harold (Ft. Lee NJ). Laser dimension gauge. USP1980054201476.
  7. Siddall ; Graham John. Measuring apparatus. USP1978014070762.
  8. Whitehouse David J. (Melton Mowbray GB2) Sharma Harish C. (Leicester GB2). Method of determining the coordinates of the center of curvature of the curved surface of a workpiece. USP1982074342091.

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 6

  1. Gurny Werner (Wadgassen DEX). Coordinate measuring and testing machine. USP1990034908951.
  2. Kobayashi Kenichi (Tokyo JPX) Matsui Shougo (Sagamihara JPX). Dimension checking method. USP1991045012523.
  3. Enomoto Masato,JPX. Machine control gage system performing roughness and roundness measuring functions. USP2000086098452.
  4. Eaton Homer L. (111 “C”Sequoia Ave. Carlsbad CA 92008). Method and apparatus for measuring and inspecting articles of manufacture for configuration. USP1990114972090.
  5. Kunzmann Horst (Braunschweig DEX) Schepperle Karl (Oberkochen DEX) Trieb Gerhard (Konigsbronn DEX) Wldele Franz (Braunschweig DEX). Method of measuring rotary-table deviations. USP1989044819339.
  6. Chizhov, Ilya; Ebert, Martin. System and method for finding the center of rotation of an R-theta stage. USP2004066747746.

IPC 상위 출원인