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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0754543 (1985-07-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 8 |
A method and apparatus for characterizing a central circular aperture of a workpiece, for example a flexible information storage disk. The apparatus utilizes a noncontact sensor system having a rotary stage upon which the workpiece is placed. A reference edge extending approximately to the axis of r
Apparatus for characterizing the roundness of a workpiece aperture, said apparatus comprising: (a) a rotary stage adapted to receive a workpiece having an aperture to be characterized, said rotary stage including a central aperture surrounding the workpiece aperture; (b) a reference surface mounted
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