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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0935900 (1986-11-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 3 |
A plurality of sample beam wavefronts derived from selected portions of a wide-aperture outgoing optical beam wavefront enter an entrance pupil (11) located adjacent a focal surface (12) on which the sample beams are individually focussed. A relay lens system (13) transmits the sample beams to a bea
An apparatus for sensing aberrations in an optical beam wavefront, said apparatus comprising: (a) means for producing a plurality of sample beams, each sample beam having a wavefront representing a corresponding portion of the optical beam wavefront in which said aberrations are to be sensed, and f
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