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Manufacturing process control

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/20
  • G06G-007/48
출원번호 US-0794077 (1985-11-01)
발명자 / 주소
  • Moyer John A. (Fremont IN) Duguid Jeffery W. (Angola IN)
출원인 / 주소
  • Moyer Process and Control Company, Inc. (Angola IN 02)
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 8

초록

A process control is provided for continuously monitoring and adjusting an apparatus for manufacturing discrete workpieces. The system measures a current workpiece by taking fifteen readings and deleting the highest five and lowest five readings and averaging the center five readings. This value is

대표청구항

A method for controlling an apparatus for manufacturing discrete workpieces comprising: selecting a centered mean value; selecting and storing a correction value; manufacturing a workpiece; measuring a controlled dimension of said workpiece; computing an adjustment value for adjusting said apparatus

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Nakao Hisaji (Toyota JA) Fukuma Nobuo (Toyota JA) Matsubara Hideyuki (Toyoake JA) Takasu Tadahiro (Nishio JA) Yoneda Takao (Kariya JA), Automatic quality control system.
  2. Hansford Michael (Rugby GB2), Data processing.
  3. Mueller Martin (Bickenbach DEX) Schoenfeld Harald (Darmstadt-Arheilgen DEX), Method and apparatus for monitoring and/or correcting of a physical characteristic.
  4. De Gasperi Mario M. (Milan ITX) Racciu Antonio (Turin ITX) Nari Dario (Barge ITX), Method and apparatus for real time detection of faults in industrial objects.
  5. Powers ; Jr. ; Whitney S. ; Hobler ; Ross L. ; Bryant ; Nelson H. ; Alle n ; Wilbur J., Method and apparatus for statistically testing frangible containers.
  6. Willis Barry G. (Los Altos Hills CA) Schleifer Arthur (Palo Alto CA) Bell Norton W. (Palo Alto CA) Dryden Paul C. (West Chester PA) Stefanski Andrew (Menlo Park CA) Dorny C. Nelson (Broomall PA), Method of performing measurements and error analysis of the measurements.
  7. Himmelstein Sydney (Lake Bluff IL), Production control system.
  8. Li Chou H. (379 Elm Dr. Roslyn NY 11576), Self-optimizing method and machine.

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. Chisato Kato JP; Takahiro Kobayashi JP; Kazuo Kitao JP, Apparatus and method for feedback-adjusting working condition for improving dimensional accuracy of processed workpieces.
  2. Kato,Chisato; Kobayashi,Takahiro; Kitao,Kazuo, Apparatus and method for feedback-adjusting working condition for improving dimensional accuracy of processed workpieces.
  3. Williams, Scott T.; Schachtely, Alan T., Custom rule system and method for expert systems.
  4. Pryor Timothy R.,CAX, Intelligent machining and manufacturing.
  5. Timothy R. Pryor CA, Intelligent machining and manufacturing.
  6. Biggs Dave, Knowledge manager relying on a hierarchical default expert system: apparatus and method.
  7. Wang, Fengguo, Method and a device for titling.
  8. Walter, Joshua A.H.; Gravis, Michael J.; Apps, Charles David, Method and system for controlling the quality of a stamped part.
  9. Bender, Christoph, Processing device, measuring device, and correcting device for the manufacture of products.
  10. Jeffrey William Stein ; Necip Doganaksoy, Processor and method for determining the statistical equivalence of the respective mean values of two processes.
  11. Kotan Norihiko (Itami JPX), System for managing production of semiconductor devices.
  12. Brearley Malcolm (Solihull GB2) Moseley Richard B. (Birmingham GB2), Transducer control in vehicle braking systems.
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