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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0794077 (1985-11-01) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 8 |
A process control is provided for continuously monitoring and adjusting an apparatus for manufacturing discrete workpieces. The system measures a current workpiece by taking fifteen readings and deleting the highest five and lowest five readings and averaging the center five readings. This value is
A method for controlling an apparatus for manufacturing discrete workpieces comprising: selecting a centered mean value; selecting and storing a correction value; manufacturing a workpiece; measuring a controlled dimension of said workpiece; computing an adjustment value for adjusting said apparatus
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