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특허 상세정보

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Electro-optic measurement (network analysis) system

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-027/00   
미국특허분류(USC) 324/158R ; 324/58B ; 324/77K
출원번호 US-0021089 (1987-03-03)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 0
초록
▼

A measurement system using electro-optic sampling and operative in the time domain characterizes devices over a bandwidth extending to upper microwave frequencies (e.g., 100 GHz). The device under test is mounted to or integrated on a substrate of electro-optic semiconductor material and is connected to transmisison and lines on the substrate. Sampling signals are electro-optically generated and propagate along the lines toward and away from the device under test, using a laser pulse beam incident on the substrate. The signals are electrically sampled by...

대표
청구항
▼

A system for characterizing the properties of a device which comprises means for generating a pulse signal at a first location spaced from said device and propagating said signal towards said device where it is incident thereon and also away from said device, means for detecting said signal at second and third locations respectively towards and away from said device which are equidistant from said first location, and means responsive to the signal detected at said third location and the difference of the signals detected at said second and third location...

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 21

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IPC 상위 출원인