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Reflectance measuring apparatus for making contactless measurements 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-003/36
  • G01J-003/42
  • G01N-021/86
  • G01N-021/47
출원번호 US-0889330 (1986-07-23)
우선권정보 DE-3526553 (1985-07-25)
발명자 / 주소
  • Gerlinger Hermann (Aalen-Ebnat DEX) Hohberg Gerhard (Oberkochen DEX)
출원인 / 주소
  • Carl-Zeiss-Stiftung (Heidenheim DEX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 0

초록 ▼

A reflectance measuring apparatus for contactless measurement is described, in which the result of measurement is not dependent on the distance from the test object within a predetermined range. This is attained by disposing the light source in the focus of a condenser, and by providing that the mea

대표청구항 ▼

A reflectance measuring apparatus for making contactless measurements on a moving surface of a sample moving in a given direction, the surface fluttering transversely to said direction within a predetermined range, the apparatus being mounted a predetermined distance from said sample and comprising:

이 특허를 인용한 특허 (22)

  1. Hubble, III, Fred F.; Love, Tonya L.; Robbins, Daniel A., Angular, azimuthal and displacement insensitive spectrophotometer for color printer color control systems.
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  2. Price, Joseph K., Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product.
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  3. Price,Joseph K., Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product.
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  4. Price,Joseph K., Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product.
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  5. Schulz Horst (Miesbach DEX), Arrangement for determining the degree of dispersion of magnetic pigments in a dispersion.
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  6. Schumacher, Ursula, Device for detecting the properties of a web of material transported in the longitudinal direction.
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  7. Margraf, Joerg; Lamparter, Peter, Device for referenced measurements of reflected light and a method for calibrating such a device.
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  8. Asimopoulos George (201 Cherokee Dr. Blacksburg VA 24060), Dual beam spectrophotometer.
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  9. Schrmmli Fortunat (Hausen CHX) Berner Markus (Niederhasli CHX) Ott Hans (Regensdorf CHX), Manual device for the detection of optical reflection properties.
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  10. Berner Markus (Niederhasli CHX) Schrmmli Fortunat (Hausen CHX) Feri Lido (Nussbaumen CHX) Koch Wilhelm H. (Otelfingen CHX), Manual device for the determination or measurement of photometric data using a measuring head.
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  11. Gerlinger Hermann (Aalen-Ebnat DEX) Hohberg Gerhard (Aalen-Dewangen DEX) Schneider Horst (Knigsbronn DEX), Measuring apparatus for characterizing a surface having color directional reflectance properties.
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  12. Piironen Timo H. (Raahe FIX), Method and apparatus for the inspection of specularly reflective surfaces.
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  13. Hebert, Raymond T.; Blatt, Joel M.; Widunas, Joseph T., Method and device for measuring reflected optical radiation.
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  14. Hebert,Raymond T.; Blatt,Joel M.; Widunas,Joseph T., Method and device for measuring reflected optical radiation.
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  15. Price, Joseph K., Method for forming and measuring the thickness of an anodized coating.
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  16. Lin Chin-Ru (Hsin Chu Hsien TWX) Dong Yueh-Joy (Hsin Chu Hsien TWX) Wu Jinn-Trong (Hsin Chu Hsien TWX), Optical fiber type colorimeter.
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  17. Hotta Hiroyuki,JPX ; Makida Seigo,JPX ; Sakai Yoshihiko,JPX ; Ito Hisao,JPX, Optical measuring method, optical measuring apparatus and image forming apparatus.
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  18. Yamaguchi, Akifumi; Sugiyama, Hisakazu, Optical object identification device and printing apparatus using the same.
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  19. Fleming Kevin J. (Albuquerque NM), Plasma emission spectroscopy method of tumor therapy.
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  20. Sullivan Charles T. (Burnsville MN) Zook J. David (Burnsville MN), Real-time color comparator.
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  21. Hohberg Gerhard (Aalen-Dewangen DEX) Gerlinger Hermann (Aalen-Ebnat DEX), Reflectance measuring apparatus for making contactless measurements.
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  22. Price,Joseph K., System capable of determining applied and anodized coating thickness of a coated-anodized product.
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