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Apparatus for quantitative secondary ion mass spectrometry 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-049/24
출원번호 US-0020181 (1987-02-26)
우선권정보 JP-0053462 (1984-03-22); JP-0140241 (1984-07-06)
발명자 / 주소
  • Homma Yoshikazu (Tokyo JPX) Ishii Yoshikazu (Tokyo JPX)
출원인 / 주소
  • Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 0

초록

An apparatus for quantitative secondary ion mass spectrometry comprising a sealed chamber for storing a sample containing a light impurity element which is to be analyzed, secondary ion generating means for bombarding a primary ion beam onto the sample so as to allow the sample to emit a secondary i

대표청구항

An apparatus for quantitative secondary ion mass spectrometry comprising: a sealed chamber for storing a sample containing a light impurity element which is to be analyzed; secondary ion generating means for bombarding a emit a secondary ion of the light element; quantitative analyzing means for det

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Whitehouse, Craig M.; Dresch, Thomas, Apparatus for analysis of sample chemical species featuring multiple sample placement locations.
  2. Bohnenkamp Carl E. ; Dziobkowski Chester T., Charged particle beam apparatus having anticontamination means.
  3. Kohler, Marcel; Vogt, Herbert; Frick, Urs, Cryogenic pump with a device for preventing the memory effect.
  4. Pehl Richard H. (Berkeley CA) Madden Norman W. (Livermore CA) Malone Donald F. (Oakland CA), Cryostat including heater to heat a target.
  5. Soltz,David; Wieczorek,Paul; Zuo,Aaron; Toth,Gabor, Systems and methods for reducing alteration of a specimen during analysis for charged particle based and other measurement systems.
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