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MOS temperature sensing circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11C-007/04
출원번호 US-0871330 (1986-06-06)
발명자 / 주소
  • Hoff David L. (Fair Oaks CA)
출원인 / 주소
  • Intel Corporation (Santa Clara CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 25  인용 특허 : 0

초록

An MOS temperature sensing circuit formed on a silicon substrate which may be used for disabling portions of output drivers in EPROM at high temperatures. The circuit uses a first and second diode, one of which has substantially larger area than the other. The diodes are reverse biased through field

대표청구항

An MOS temperature sensing circuit formed on a silicon substrate comprising: a first and a second load; a first and a second leakage device, coupled to said first and second loads, respectively, said loads biasing said leakage devices such that said devices each have a temperature dependent leakage

이 특허를 인용한 특허 (25)

  1. Jungroth Owen W. (Sonora CA), A circuit for providing a load for the charging of an EPROM cell.
  2. Volk, Andrew M., Buffer with compensating drive strength.
  3. Hogg, Dennis W., Current sensor comprising differential amplifier biased by leakage current.
  4. Hogg, Dennis W., Disk drive comprising extended range head proximity sensor.
  5. Hogg, Dennis W., Disk drive comprising extended range head proximity sensor.
  6. Kinsley, Tom, Electronic apparatus having IC temperature control.
  7. Kinsley, Tom, Electronic apparatus having IC temperature control.
  8. Chevallier Christophe J., Integrated circuit with temperature detector.
  9. Cooper, Christopher B.; Liu, Ming-Bo; Martin, Chris G.; Manning, Troy A.; Casper, Stephen L.; Dennison, Charles H.; Shirley, Brian M.; Brown, Brian L.; Batra, Shubneesh, METHOD FOR STORING A TEMPERATURE THRESHOLD IN AN INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR STORING A TEMPERATURE THRESHOLD IN A DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY, METHOD OF MODIFYING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY OPE.
  10. Cooper, Christopher B.; Liu, Ming-Bo; Martin, Chris G.; Manning, Troy A.; Casper, Stephen L.; Dennison, Charles H.; Shirley, Brian M.; Brown, Brian L.; Batra, Shubneesh, METHOD OF STORING A TEMPERATURE THRESHOLD IN AN INTEGRATED CIRCUIT, METHOD OF MODIFYING OPERATION OF DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY IN RESPONSE TO TEMPERATURE, PROGRAMMABLE TEMPERATURE SENSING CIRCUIT .
  11. Volk, Andrew M., Method and apparatus for configuring an I/O buffer having an initialized default signaling level to operate at a sampled external circuit signaling level.
  12. Gerber, Johannes; Arnold, Matthias; Huber, Korbinian, Method and circuit for controlling the refresh rate of sampled reference voltages.
  13. Cooper Christopher B. ; Liu Ming-Bo ; Martin Chris G. ; Manning Troy A. ; Casper Stephen L. ; Dennison Charles H. ; Shirley Brian M. ; Brown Brian L. ; Batra Shubneesh, Method of storing a temperature threshold in an integrated circuit, method of modifying operation of dynamic random access memory in response to temperature, programmable temperature sensing circuit .
  14. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  15. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  16. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  17. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  18. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  19. Davidson Evan Ezra (Hopewell Junction NY) Bosco Francis Edward (Poughkeepsie NY) Vakirtzis Charles Kyriakos (New Windsor NY), On-chip temperature sensing system.
  20. Kinsley, Tom, Power sink for IC temperature control.
  21. Thekkath, Radhika; Uhler, G. Michael; Ho, Ying-wai; Harrell, Chandlee B., Processor having an arithmetic extension of an instruction set architecture.
  22. Winston ; Jr. Charles R. (North Canton CT), Semiconductor light source temperature measurement.
  23. Kuroda, Masami, Storage control device controlling refresh frequency based on temperature.
  24. Koyama, Jun; Yamazaki, Shunpei, Temperature sensor circuit and semiconductor device including temperature sensor circuit.
  25. Van Kessel Henricus J. (Son NLX), Temperature-compensated voltage driver circuit for a current source arrangement.
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