[특허]Process and apparatus for determination of dimensions of an elongated test object

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Process and apparatus for determination of dimensions of an elongated test object 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01B-011/08
출원번호	US-0874335 (1986-06-13)
우선권정보	DE-3521260 (1985-06-13)
발명자 / 주소	Dassler Hans-Ulrich (Oberschleissheim DEX) Haas Rudiger (Faistenhaar DEX) Lffler Gerhard (Munich DEX)
출원인 / 주소	OEM Messtechnik GmbH (DEX 03)
인용정보	피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 5

초록 ▼

An opto-electronic measuring bench for the automatic dimensional inspection of externally turned parts, where the test object is linearly illuminated and an image of two diametrically opposed contour points produced on two rows of photodiodes. The diameter of the shafts may be determined from the position of the images of the two contour points recognized as intensity jumps and the electrically determined distance of the two rows of diodes. The rows of diodes may be moved together with the light sources in the axial direction of the test object, in order to carry out diameter measurements over the entire axial length of the test object. The distance of the diode rows in the axial direction from a starting position is also determined electrically, so that length measurements of the test object are also possible.

대표청구항 ▼

A method for determining dimensions of a shaft-like test object comprising the steps of: (1) individually illuminating diametrically opposed contour points of a test object by line-shaped light sources; (2) reproducing said contour points by detecting an intensity variation in a projected linear image of said test object on lines of photodiodes associated with each of said line-shaped light sources; (3) continuously determining a distance between said lines of photodiodes in the form of electrical signals; and (4) utilizing the electrical signals and said detected intensity variations in order to calculate the distance between said contour points.

이 특허에 인용된 특허 (5)

Igaki, Seigo; Nakakuki, Tadao; Inagaki, Takefumi; Oikawa, Shuetsu; Fujimura, Takashi, Apparatus for detecting edge of semitransparent plane substance.
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Shields Dean W. (4645 Calnita Pl. Jackson MS 39211), Log handling and sawing system.
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Wadell Tord C. (Stockholm SEX), Log processing positioning means.
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Gorenflo Donald L. (Marion OH) Noblit ; III William D. (Marion OH), Method and apparatus for dimensionally measuring articles.
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Calkins James D. (Oak Brook Terrace IL) Bushong Eugene E. (Bensenville IL) Schuck Lee R. (Buffalo Grove IL), Width detector system.
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이 특허를 인용한 특허 (4)

Washio Isomi,DEX ; Latten Werner,DEX, Device for measuring dimensions of workpieces.
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Teig, Steven; Caldwell, Andrew, Method and apparatus for generating multi-layer routes.
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Sadeh Yaacov (Bialik Street 11/6 New Ziona ILX) Makover Yaacov (Bet Elazari Rechovot ILX), Non-contact triangulation probe system.
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Calame, Fabrice, Optical measurement system.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

KIPRIS 원문보기

IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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