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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0079685 (1987-07-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 0 |
A system for determining the thickness of an oxide deposit on a conductive surface by applying a voltage across the deposit while measuring the dielectric breakdown of the layer at various points. An electrode mechanism containing a first electrode can be positioned at any point on the surface of th
A method for determining the thickness of a layer of insulative material deposited on the surface of a metal tube, comprising the steps of: placing a first electrode in contact with the surface of said insulative layer at a plurality of locations on said layer; electrically coupling a second electro
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