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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0934834 (1986-11-25) |
우선권정보 | JP-0272254 (1985-12-03); JP-0272253 (1985-12-03); JP-0271251 (1986-11-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 183 인용 특허 : 2 |
A method of measuring the profile of a three-dimensional object including the steps of scanning the surface of the object to be measured with a slit-ray, forming an optical image of the surface of the object on an imaging plane of a nonscanning type two-dimensional image sensor which is composed of
An apparatus for measuring the profile of three-dimensional object comprising: a means for scanning a surface of an object to be measured with a measuring slit-ray; a non-scanning type two-dimensional image sensor which is composed of a plurality of mutually independent arrayed photosensors and whic
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