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Apparatus and method for adjusting focus of a multi-element optical detector

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-003/02
  • G01J-003/36
출원번호 US-0139509 (1987-12-30)
발명자 / 주소
  • Sullivan James J. (Newark DE)
출원인 / 주소
  • Hewlett-Packard Company (Palo Alto CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 4

초록

A multi-element optical detector having a planar array of detector elements is focused at the focal plane of an optical spectrometer by placing the detector with the detecting surface of the array facing the optical spectrometer and being substantially perpendicular to the axis of the path of the li

대표청구항

A method of focusing a multi-element optical photodetector array at the focal plane of an optical spectrometer comprising the steps of: (a) placing the optical detector with the plane of the array of elements being substantially parallel to the focal plane; (b) taking optical measurements of at leas

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Hennick Robert P. (Dudley MA), Apparatus for testing lenses by determining best focus.
  2. Nanba Yasuhiro (Osaka JA), Focus detecting device.
  3. Jackson Ralph Newton (Endicott NY) Kern Richard Wilhelm (Vestal NY) Tong Alvin Hu (Poughkeepsie NY), Self-calibratable spectrum analyzer.
  4. Mashimo Yukio (Tokyo JA) Sakurada Nobuaki (Kanagawa JA) Ito Tadashi (Kanagawa JA) Ito Fumio (Kanagawa JA) Shinoda Nobuhiko (Tokyo JA), System for exposure measurement and/or focus detection by means of image senser.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Montagu,Jean I.; Overbeck,James W., Focusing of microscopes and reading of microarrays.
  2. Harrison,Dale A.; Hayes,Anthony T., Prism spectrometer.
  3. deMey ; II Charles F. (West Redding CT), Spectrometer detector mounting assembly.
  4. Harrison, Dale A.; Hayes, Anthony T., Spectrometer with collimated input light.
  5. Harrison, Dale A.; Hayes, Anthony T., Spectrometer with moveable detector element.
  6. Yoo, Woo Sik, Spectroscopy system.
  7. Yoo,Woo Sik, Spectroscopy system.
  8. Funayama, Ryuji; Kawamata, Shinya; Yokochi, Yasukata; Endo, Masato; Yoshida, Yasuhiro; Kitahama, Kenichi, Spectrum measuring apparatus.
  9. Mitchell Robert R., System for measuring the location and orientation of an object.
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