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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0059052 (1987-06-08) |
우선권정보 | JP-0133422 (1986-06-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 5 |
A defect detector circuit for an inductive load driving circuit which has a surge comparator circuit for comparing a surge generated from an inductive load when the current of the inductive load is interrupted with a reference value on the basis of an output from a surge absorber circuit for absorbi
A defect detector circuit comprising: a surge comparator circuit connected to receive a surge voltage generated from an inductive load and which produces a reference voltage, compares the surge voltage with the reference voltage, and produces a comparator output signal which is in a first logic stat
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