[특허]Method and apparatus for measuring strong microwave electric field strengths

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Method and apparatus for measuring strong microwave electric field strengths 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H05B-006/80
출원번호	US-0113128 (1987-10-23)
발명자 / 주소	Lentz Ronald R. (3230 Everest La. Plymouth MN 55447) Wendt Dan J. (6994 W. Shadow Lake Dr. Lino Lakes MN 55042) Kemske Jonathon D. (1417 Mississippi St. New Brighton MN 55112) Pesheck Peter S. (3125
인용정보	피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 2

초록 ▼

A method and apparatus for measuring strong microwave electric field strengths is disclosed. The apparatus includes a first active temperature probe in cooperation with susceptor means for measuring a temperature indicative of the heating effects of microwave radiation at a test location, and an ambient temperature probe for measuring ambient temperature. The temperature differential between the two probes is used by calibration means for determining electric field strength at the test location. The method includes the steps of heating a susceptor means with microwave radiation, and measuring a temperature indicative of the heating effects of microwave radiation at the test location. Ambient temperature is measured, and the temperature differential used to determine the magnitude of the electric field strength.

대표청구항 ▼

A method for measuring strong microwave electric field strengths, comprising the steps of: heating a susceptor means with microwave radiation, where the susceptor means is located at a first location whose electric field strength is desired to be determined; measuring a temperature indicative of the heating effects of microwave radiation at the first location; measuring an ambient temperature at a second location remote from the first location; determining a temperature differential representative of the difference between the first temperature and the ambient temperature; and, determining the electric field strength at the first location based upon the magnitude of the temperature differential.

이 특허에 인용된 특허 (2)

Tallmadge Gene E. (Palo Alto CA) Gerling John E. (San Mateo CA), Method and apparatus for controlling microwave ovens.
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Lentz Ronald R. (Wayzata MN), System and method for regulating power output in a microwave oven.
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이 특허를 인용한 특허 (14)

Kochanski, Gregory Peter, Determining location using magnetic fields from AC power lines.
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Effelsberg Uwe,DEX, Electronic assembly having improved thermal characteristics.
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Lorenson Claude P. (Kingston CAX) Hewitt Bryan C. (Kingston CAX) Keefer Richard (Peterborough CAX) Ball Melville D. (Kingston CAX), Improved uniformity of microwave heating by control of the depth of a load in a container.
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Haarer, Dietrich; Lévy, Yoav, Method and system for determining the condition of a time-temperature indicator.
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Wendt Dan J. (Shoreview MN), Method of determining resonant lengths of microwave shielding material.
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Turpin Charles H. (Minneapolis MN) Perry Michael R. (Plymouth MN), Microwave heater and method of manufacture.
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Mirov, Russell Norman; Lookingbill, Andrew, Mobile device position and orientation from multiple unsurveyed magnetic sources.
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Miller, Christian, Systems and methods for using magnetic field readings to refine device location estimates.
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Haarer, Dietrich; Gueta-Neyroud, Tal; Salman, Husein, Time temperature indicator.
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Haarer, Dietrich; Levy, Yoav, Time-temperature indicating device.
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.ANG.kerlind Jan,SEX, Vessel for preparation or cooking of e.g. food-stuffs and beverages by heating.
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특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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