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Temperature measuring arrangement 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01K-007/16
  • H01L-035/00
출원번호 US-0432879 (1982-10-05)
우선권정보 DE-3139556 (1981-10-05)
발명자 / 주소
  • Begehr Dieter (Oststeinbek DEX) Keitel Gerd (Ahrensburg DEX) Burmeister Rainer (Hamburg DEX)
출원인 / 주소
  • U.S. Philips Corp. (New York NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 4

초록

A temperature measuring arrangement employs a semiconductor element whose internal resistance depends on the temperature and the current direction and which is driven by an a.c. signal from an a.c. signal source. A measuring device determines the difference in semiconductor element conductivity depe

대표청구항

A circuit arrangement for measuring temperature comprising: a semiconductor element whose conductivity is temperature-dependent, said semiconductor element including a planar electrode and, on the opposite side, a substantially point-shaped electrode and having a threshold temperature above which it

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Meijer Robert S. (Montreal CA), Adjustable temperature actuated switching apparatus.
  2. Bernard Jean (St-Martin D\Heres FR) Frossati Giorgio (Grenoble Gare FR) Guernet Georges (Grenoble FR) Montier Michel (Meylan FR) Peccoud nee Toupillier Louise (Claix FR) Thoulouze Daniel (Echirolles , Measuring detector and a method of fabrication of said detector.
  3. Dobkin ; Robert C., Temperature sensor.
  4. Bergeron David L. (Manassas VA) Stephens Geoffrey B. (Catlett VA), Voltage compensation of temperature coefficient of resistance in an integrated circuit resistor.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Coln, Michael; Guery, Alain Valentin; Hu, Lejun, On-chip temperature sensor using interconnect metal.
  2. Jansen, Uwe, Temperature detection for a semiconductor component.
  3. Curry Stephen M. ; Bolan Michael L. ; Deierling Kevin E. ; Payne ; II William Lee ; Kurkowski Hal, Temperature sensing systems and methods.
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