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Thickness measuring device for insulating glass 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/06
출원번호 US-0190333 (1988-05-05)
발명자 / 주소
  • Greiner Reuben U. (1010 W. Maple St. Lebanon OR 97355)
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 0

초록

A thickness measuring gauge for insulating glass which includes, in the preferred embodiment, a sighting member with a front sight, a rear sight and a sight tube through which the user takes an angled sighting of the insulating glass with the device in contact with the near side surface thereof. A s

대표청구항

A thickness measuring device for insulating glass having a plurality of single glass sheets which are parallel and separated by air space, the insulating glass having a near or first surface and a far or second surface, said thickness measuring device comprising: a. a base member, having a front edg

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. McGlinchy, Timothy Bryan, Apparatus and method for processing sealant of an insulating glass unit.
  2. Wexler, Ronald M., Frameless supplemental window for fenestration.
  3. Wexler, Ronald Myron, Frameless supplemental window for fenestration.
  4. Wexler, Ronald M., Frameless supplemental window for fenestration incorporating infiltration blockers.
  5. Imbrock Mark A. ; Simpson Jeffrey A., Gauge for measuring glass thickness and glass pane spacing.
  6. James W. Early, Laser detection of material thickness.
  7. Simpson, Jeffrey A.; Imbrock, Mark A., Method and apparatus for detecting properties of reflective transparent surface coatings on a sheet of transparent material.
  8. Simpson,Jeffrey A.; Imbrock,Mark A., Method and apparatus for protecting an optical transmission measurement when sensing transparent materials.
  9. Simpson, Jeffrey A.; Imbrock, Mark A.; Strimpel, Nathan, Method of enhancing measurement of stress in glass.
  10. Wexler, Ronald Myron; Metelsky, Alan Scott, Supplemental window for fenestration.
  11. Propst, Jr., Glenn David, System and method of detecting the interface between mediums with dissimilar indices of refraction.
  12. Simpson, Jeffrey A.; Imbrock, Mark A.; Strimpel, Nathan, System for detecting coatings on transparent or semi-transparent materials.
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