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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0144215 (1988-01-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 21 인용 특허 : 11 |
A testing or sampling probe to determine the response of electrical circuits or devices to ultrafast electrical pulses. The probe is detachable from the device being tested. The probe includes a transparent substrate though which optical pulses are focused or directed onto a photoconducting gap. The
Electrical signal sampling probe apparatus responsive to electrical signals at selected points in an electrical circuit comprising: a transparent substrate, electrically conductive signal transmission means disposed on said transparent substrate, said electrically conductive signal transmission mean
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