$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Apparatus for separating specular from diffuse radiation 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/47
  • G01N-021/55
  • G01N-021/88
출원번호 US-0271396 (1988-11-10)
우선권정보 GB-0021418 (1986-09-05)
발명자 / 주소
  • West Robert N. (Chislehurst GBX)
출원인 / 주소
  • SIRA Limited (Chislehurst GBX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 2

초록

An optical inspection system for determining various features of, for example, painted surfaces, by analyzing light reflected from the surface in a plurality of ways. In one case the cross sectional diameter of a beam of radiation, which gives information regarding the surface, is measured by passin

대표청구항

Apparatus for separating specular from diffuse radiation from an area of a surface under inspection, comprising means for passing radiation to said surface, retroreflective means positioned with respect to said surface for reflecting radiation from said surface back to said surface, focusing means f

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Coppa Gianni (Asti ITX) Di Vita Pietro (Turin ITX), Method of and apparatus for the measurement of the refractive-index profile in monomode optical fibres.
  2. Clarke Donald A. (Windsor CAX) Reynolds Rodger L. (Windsor CAX) Pryor Timothy R. (Tecumseh CAX), Panel surface flaw inspection.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Bernatek,Christian; Kellner,Frank; March,Peter, Method for determining and evaluating defects in a sample surface.
  2. Imaino Wayne Isami ; Juliana ; Jr. Anthony ; Latta Milton Russell ; Lee Charles H. ; Leung Wai Cheung ; Rosen Hal J. ; Brannon James Hammond, Method of producing a calibration disk.
  3. Marxer,Norbert; Gross,Kenneth P.; Altendorfer,Hubert; Kren,George, Process and assembly for non-destructive surface inspections.
  4. Vaez Iravani,Mehdi; Stokowski,Stanley; Zhao,Guoheng, Sample inspection system.
  5. Vaez Iravani,Mehdi; Stokowski,Stanley; Zhao,Guoheng, Sample inspection system.
  6. Vaez Iravani,Mehdi; Stokowski,Stanley; Zhao,Guoheng, Sample inspection system.
  7. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  8. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  9. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  10. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  11. Imaino Wayne Isami ; Juliana ; Jr. Anthony ; Latta Milton Russell ; Lee Charles H. ; Leung Wai Cheung ; Rosen Hal J., Surface inspection tool.
  12. Imaino Wayne Isami ; Juliana ; Jr. Anthony ; Latta Milton Russell ; Lee Charles H. ; Leung Wai Cheung ; Rosen Hal J., Surface inspection tool.
  13. Imaino Wayne Isami ; Juliana ; Jr. Anthony ; Latta Milton Russell ; Lee Charles H. ; Leung Wai Cheung ; Rosen Hal J., Surface inspection tool.
  14. Imaino Wayne Isami ; Juliana ; Jr. Anthony ; Latta Milton Russell ; Lee Charles H. ; Leung Wai Cheung ; Rosen Hal J., Surface inspection tool.
  15. Imaino, Wayne Isami; Juliana, Anthony; Latta, Milton Russell; Lee, Charles H.; Leung, Wai Cheung; Rosen, Hal J.; Meeks, Steven; Sonningfeld, Richard, Surface inspection tool.
  16. Imaino, Wayne Isami; Juliana, Jr., Anthony; Latta, Milton Russell; Lee, Charles H.; Leung, Wai Cheung; Rosen, Hal J.; Meeks, Steven; Sonningfeld, Richard, Surface inspection tool.
  17. Imaino Wayne Isami ; Latta Milton Russell, Surface inspection tool using reflected and scattered light.
  18. Biellak,Steve; Stokowski,Stanley E.; Vaez Iravani,Mehdi, Systems and methods for a wafer inspection system using multiple angles and multiple wavelength illumination.
  19. Lee Frederick H., Two-mode surface defect testing system.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로