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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0216146 (1988-07-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 4 |
A circuit is provided for sampling and accurately reproducing unknown signals which could be electrical, optical, x-ray, gamma ray or particle signals with picosecond resolution. The circuit comprises a superconductive sampling gate having at least two states which are distinguishable from one anoth
A time domain reflectometer for introducing a step signal to a device under test and analyzing a reflected signal from said device under test, said reflectometer comprising: means for introducing said step signal to said device under test; and means for sampling said reflected signal; wherein said m
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