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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0200502 (1988-05-31) |
우선권정보 | JP-0137055 (1987-05-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 4 |
A voltage detector detects a voltage developing in a selected area of an object such as an integrated circuit by utilizing an electro-optic material equipped in an optical probe. A change in refractive index of the first electro-optic material which is caused by the voltage in the object, is detecte
CM,1. A voltage detector for detecting a voltage developing in a selected area of an object to be measured, comprising: a light source for emitting a light beam; a voltage-sensing part including a reflection means for reflecting an input light beam, a first electro-optic material whose refractive in
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