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Voltage detector having compensation for polarization change caused by spontaneous birefringence 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/00
  • G01R-029/12
출원번호 US-0200502 (1988-05-31)
우선권정보 JP-0137055 (1987-05-31)
발명자 / 주소
  • Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX) Takahashi Hironori (Shizuoka JPX)
출원인 / 주소
  • Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha (Shizuoka JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 4

초록

A voltage detector detects a voltage developing in a selected area of an object such as an integrated circuit by utilizing an electro-optic material equipped in an optical probe. A change in refractive index of the first electro-optic material which is caused by the voltage in the object, is detecte

대표청구항

CM,1. A voltage detector for detecting a voltage developing in a selected area of an object to be measured, comprising: a light source for emitting a light beam; a voltage-sensing part including a reflection means for reflecting an input light beam, a first electro-optic material whose refractive in

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Ono Toshiharu (629 Tokyo JPX) Ikeda Sensaku (629 Tokyo JPX) Ohno Hideo (629 Ohshiba ; Mobara City ; Chiba Prefecture JPX), Light converting type detectors.
  2. Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
  3. Mourou Gerard (Rochester NY) Meyer Kevin E. (Rochester NY), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
  4. Mourou Gerard (Rochester NY) Valdmanis Janis A. (Westfield NJ), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.

이 특허를 인용한 특허 (14)

  1. Howland, William H., Apparatus and method for determining electrical properties of a semiconductor wafer.
  2. Takanashi, Itsuo; Nakagaki, Shintaro; Shinonaga, Hirohiko; Asakura, Tsutou; Furuya, Masato, Apparatus for detecting electrostatic surface potential.
  3. Heanue John F ; Wilde Jeffrey P. ; Hurst ; Jr. Jerry E. ; Jerman John H., Data storage system having an optical processing flying head.
  4. Wang, Wei; Zhang, Zhixin; Tan, Jinquan; Wang, Xuefeng; Xia, Junlei, Electro-optic effect based optical voltage transformer.
  5. Adams, John J.; Ebbers, Chris A., Electro-optic modulator material.
  6. Wilde Jeffrey P. ; Hurst ; Jr. Jerry E ; Heanue John F. ; Izraelian Viatcheslav,CAX ; Tselikov Alexander, Low-birefringence optical fiber for use in an optical data storage system.
  7. Berger Jill D. ; Heanue John F. ; Hurst ; Jr. Jerry E. ; Jerman John H. ; Wilde Jeffrey P., Magneto-optical data storage system having an optical-processing flying head.
  8. Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX), Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same.
  9. Tselikov, Alexander; Wilde, Jeffrey P.; Blake, James, Optical depolarizer.
  10. Wilde Jeffery P. ; Davis Joseph E. ; Hurst ; Jr. Jerry E. ; Heanue John F. ; Drazan Jeff, Optical system and method using optical fibers for storage and retrieval of information.
  11. Wilde, Jeffrey P.; Tselikov, Alexander; Izraelian, Viatcheslav; Heanue, John F.; Hurst, Jr., Jerry E.; Gray, George R; Zhang, Yongwei, Refractive index matching means coupled to an optical fiber for eliminating spurious light.
  12. Heanue, John F.; Hurst, Jr., Jerry E.; Wilde, Jeffrey P., Single frequency laser source for optical data storage system.
  13. Wilde Jeffrey P. ; Hurst Jerry E. ; Heanue John F., System and method using optical fibers in a data storage and retrieval system.
  14. Takahashi Hironori (c/o Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha ; No. 1126-1 ; Ichino-cho Hamamatsu-shi ; Shizuoka JPX) Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Nakamura Takuya (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (, Voltage detector using a sampling type high-speed photodetector.
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