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Temperature compensation for pressure gauge 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/20
  • G01L-019/04
출원번호 US-0087409 (1987-08-20)
발명자 / 주소
  • Morrison Jr. Charles F. (Boulder CO)
출원인 / 주소
  • Granville-Phillips Company (Boulder CO 02)
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 14

초록

A “pressure”gauge which measures density of a gas in a vacuum system is temperature-compensated to give more accurate pressure readings by taking into account the actual gas temperature in the gauge as well as the temperature of the gas during calibration of the gauge. The calibration is for gauge o

대표청구항

An apparatus for determining a temperature-compensated value of a pressure measurement of a gas, comprising: a gauge means responsive to the density of said gas for connection to a system containing said gas; said gauge means producing an electrical output signal in response to the density of the ga

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Pearson Robert P. (St. Paul MN), Apparatus for producing a compensating voltage.
  2. Kurtz Anthony D. (Englewood NJ), Compensated pressure transducer employing digital processing techniques.
  3. Juanarena Douglas B. (Newport News VA), Digital pressure transducer and corrections circuitry system.
  4. Myers Donald O. (Carpentersville IL), Linearized electronic capacitive pressure transducer.
  5. Scott ; Larkin B., Method and apparatus for error correction.
  6. Kee David F. (Glenside PA), Method and arrangement for providing information to define the values of a set of parameters which characterize an eleme.
  7. Keller Hans W. (Winterthur CHX) Von Ritter Michael (Winterthur CHX), Method for temperature compensation and measuring circuit therefor.
  8. Wiggins, Gene D., Methods for scaling and calibrating predetermined signals.
  9. Cucci Gerald R. (Minneapolis MN), Pressure compensated differential pressure sensor and method.
  10. Yamada, Kazuji; Sato, Hideo; Kato, Kazuo; Sasayama, Takao; Kawakami, Kanji; Kanzawa, Ryosaku, Pressure transducer with temperature compensation circuit.
  11. Furuse Kiyoshi (Hino JPX), Pressure variation detecting type leakage inspection system with temperature compensation.
  12. Gross Chris (Yorktown VA), Self-correcting electronically scanned pressure sensor.
  13. Briefer Dennis K. (Berlin MA), Temperature compensated measuring system.
  14. Chow Edward Y. (Danbury CT), Temperature compensation for pressure gauges.

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Nance C. Kirk, Aircraft weight and center of gravity indicator.
  2. Nance C. Kirk, Aircraft weight and center of gravity indicator.
  3. Nance C. Kirk, Aircraft weight and center of gravity indicator.
  4. Shih, Li-Jen, Automatic calibration procedure of temperature compensation for digital pressure gauges.
  5. Bills Daniel Granville, Ionization gauge and method of using and calibrating same.
  6. Bills Daniel Granville, Ionization gauge and method of using and calibrating same.
  7. Rius, Jean-Michel, Machine for plasma treatment of containers comprising an integrated vacuum circuit.
  8. Carmichael, Larry K.; Borenstein, Michael D.; Arnold, Paul C.; Blouch, Stephen C.; Knott, Richard A., Method and apparatus for maintaining emission capabilities of hot cathodes in harsh environments.
  9. Arnold,Paul C.; Carmichael,Larry K.; Rutt,Paul M., Method and apparatus for storing vacuum gauge calibration parameters and measurement data on a vacuum gauge structure.
  10. Vesel, Alenka; Mozetic, Miran, Method and device for measuring ultrahigh vacuum.
  11. Berg, Christian; Strietzel, Carsten, Method for calibrating and operating a measuring cell arrangement.
  12. Nance C. Kirk, Method of determining status of aircraft landing gear.
  13. Minami, Tomohide, Pressure measuring device and pressure measuring method.
  14. Krisch Burkhard,DEX, Process for compensating for the incorrect operation of measuring devices caused by external influences.
  15. Jacob Neil R. (Largo FL) Winner Joe K. (Clearwater FL) Smythe Douglas C. (Clearwater FL), System for automatic real-time calibration of remotely-located capacitive-type fuel quantity measurement probes.
  16. Zhou Jiaxiang, Vacuum chamber bakeout procedure for preventing ion gauge failure.
  17. Arnold,Paul C.; Borenstein,Michael D.; Rutt,Paul M., Wide-range combination vacuum gauge.
  18. Rutt,Paul M.; Borenstein,Michael D., Wide-range combination vacuum gauge.
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