검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
---|---|---|
() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
! | NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 | 예1) (황금 !백금) 예2) !image |
* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
"" | 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 | 예) "Transform and Quantization" |
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) | G01B-011/24 |
미국특허분류(USC) | 364/57102 ; 364/560 ; 364/47435 ; 364/47437 |
출원번호 | US-0107253 (1987-10-09) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 6 |
A method for automatic probe offset compensation in a machine for measuring coordinates of a workpiece surface by contacting points on the surface with a probe having a prescribed diameter and sensing and recording the coordinates of the probe. The method can be applied to planar surfaces and circularly curved surfaces. The method includes determining a direction point in space just prior to contact with the workpiece surface, determining a directional vector between the direction point and the first contact point, and determining the angle of the direct...
In a machine for measuring coordinates of a generally planar surface on a workplace by contacting points with a probe having a prescribed diameter and continuously sampling and recording the coordinates of the probe, a method for automatically compensating the planar surface being measured for probe offset comprising the steps of: (a) moving the probe toward the planar surface and measuring the coordinates of a direction point D just before contact between the probe and the planar surface; (b) moving the probe along the planar surface and measuring the c...