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Spatula for wafer transport 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B65G-065/04
출원번호 US-0185730 (1988-04-25)
발명자 / 주소
  • Warenback Douglas H. (San Rafael CA) Hoog Josef T. (Novato CA)
출원인 / 주소
  • Tegal Corporation (Petaluma CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 7

초록

In apparatus for transporting semiconductor wafers, a spatula contains a single major recess for receiving a wafer. Adjacent one edge of the recess is a shoulder for locating the wafer in the sequence of operations for loading the spatula. As a result of the sequence, the center of the wafer is held

대표청구항

A method for accurately locating a wafer on a cantilever mounted spatula for transporting said wafer, said wafer resting in a horizontal position on a support and said spatula having an upwardly facing recess and a ridge forming a stepped shoulder on the outer edge of said recess, said method compri

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Sato, Kazuo; Yamaguchi, Sumio; Kato, Shigeo; Matsumura, Yasuhide; Mizumoto, Muneo; Okuno, Sumio; Tamura, Naoyuki, Apparatus for molecular beam epitaxy.
  2. Olofsen Oluf Per (Roskilde DK), Method and a pick-up device for lifting and moving semiconductor wafers.
  3. Hrovath Julius G. (Houston TX), Misalignment sensor for a wafer feeder assembly.
  4. Koch George R. (Los Altos CA) Petersen ; III Carl T. (Fremont CA), Modular loadlock.
  5. Gerlach Robert L. (Minnetonka MN) Seibel David D. (Lakeville MN) Miller Mark C. (Chanhassen MN), Sample transport system.
  6. Burkhalter David W. (Redwood City CA) Kain Maurits R. (Redwood City CA), Wafer handling mechanism.
  7. Garrett, Charles B., Wafer lifting and holding apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Ozeki Jiro (Tokyo JPX), Sample piece take-out device.
  2. Bhola De ; Mark Spencer Grey, Spatula for separation of thinned wafer from mounting carrier.
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