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Laser strain extensometer for material testing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-003/08
출원번호 US-0208143 (1988-06-16)
발명자 / 주소
  • Kent David L. (Framingham MA) Khan Rashid N. (Walpole MA)
출원인 / 주소
  • Systems Integration Technology, Inc. (Stoughton MA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 9

초록

A non-contact, laser strain extensometer for use in materials testing utilizes a revolving laser beam to measure the separation of benchmarks placed on the specimen to be tested. The reflection of the laser beam from the benchmarks is focused on a photosensor to generate electronic pulses. The time

대표청구항

In optical measurement apparatus for optically measuring deformation of a specimen under stress, the improvement comprising: A. marking means for marking the specimen with reflective benchmarks, B. scanning means for scanning an interrogating light beam across the specimen at a selected rate, so tha

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Furuta Isao (Suzuka JA) Iwamoto Shinsuke (Kyoto JA) Kuga Hironari (Muko JA) Chikatsu Yoshishige (Yokkaichi JA), Automatic tensile test apparatus.
  2. Harris David E. (Columbus OH), Detector pulse enhancement circuit.
  3. Demarest Frank C. (Killingworth CT) Iderosa Richard A. (Rocky Hill CT), Electro-optical measuring system.
  4. Hamar Martin R. (70 Linden Tree Rd. Wilton CT 06897), Laser measurement system, virtual detector probe and carriage yaw compensator.
  5. Petrohilos Harry G. (Yellow Springs OH) Taylor Francis M. (Xenia OH), Light beam shape control in optical measuring apparatus.
  6. McDonach Alaster (Erskine GB6) McKelvie James (Glasgow GB6) Walker Colin A. (Glasgow GB6), Measurement of deformation.
  7. Kaule Walter (Cologne DEX), Method and apparatus for receiving ultrasonic waves by optical means.
  8. Walker ; Ray A. ; Reich ; Fred R. ; Russell ; James T., Optical extensometer.
  9. Blaich Michael (Stuttgart DEX), Optoelectronic method and apparatus for measuring the bending angle of materials.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Hallundbæk, Jørgen; Hazel, Paul, Annular barrier with an expansion detection device.
  2. Ettemeyer Andreas,DEX, Method and an apparatus for the enlargement of the measuring range of speckle measuring systems for measurments of elon.
  3. Lim, Jae-Young, Method and apparatus of measuring precise high speed displacement.
  4. Chen Fang ; Waas Anthony M. ; Kuo Everett You-Ming ; Plummer ; Jr. Howard Kiel ; Allen Thomas Eugene, Method of using a microscopic digital imaging strain gauge.
  5. Takashima, Kazuki; Otsu, Masaaki; Matsuda, Mitsuhiro; Kurahara, Hiroaki; Maeda, Hidetaka; Yonekura, Tadahiro, Micromaterial strain measurement apparatus and method therefor.
  6. Chen Fang ; Waas Anthony M. ; Kuo Everett You-Ming ; Plummer ; Jr. Howard Kiel ; Allen Thomas Eugene, Microscopic digital imaging strain gauge.
  7. Manzouri Shahamat,GBX, Structural deflection measurement.
  8. Hayford, Paul D.; Long, David W., Testing of samples.
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