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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0201888 (1988-06-03) |
우선권정보 | JP-0142063 (1987-06-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 6 |
A voltage detector detects a voltage developing in a selected area of an object such as an integrated circuit by utilizing an electro-optic material equipped in an optical probe. A change in refractive index of the electro-optic material hwich is caused by the voltage in the object, is detected as a
A voltage detector for detecting a voltage developing in a selected area of an object to be measured, comprising: a light source for emitting a light beam; a voltage-sensing part including reflection means for reflecting an input light beam, and an electro-optic material for sensing said voltage in
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