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Sensor for measuring physical parameters of concentration of particles 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/49
  • G02B-006/10
출원번호 US-0051252 (1987-05-07)
우선권정보 DE-3319526 (1983-05-28)
발명자 / 주소
  • Opitz Norbert (Schwerte DEX) Lbbers Dietrich W. (Dortmund DEX)
출원인 / 주소
  • Max Planck Gesellschaft (Munich DEX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 13

초록

A sensing arrangement for measuring physical parameters or concentration of particles is assembled of a laminar source of luminescent radiation. Fluorescent indicating particles are arranged in an indicator layer adjoining one major side of the laminar light source. The indicator layer adjoins a mea

대표청구항

A physical sensor for measuring physical parameters inclusive of concentration of particles, comprising a laminar formation assembled of a laminar source of a luminescent first radiation, an indicator layer adjoining a major side of said laminar source and being permeable to particles of measurement

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Bredeweg Roger L. (Stevensville MI), Combustion system.
  2. Morris David A. N. (Elkhart IN), Device and method for chemical analysis of fluids with a reagent coated light source.
  3. Oberhardt Bruce J. (Mishawaka IN) Wotherspoon Neil (New York NY), Electrochemiluminescent immunoassay and apparatus therefor.
  4. Takekawa Hiroshi (Kunitachi JPX), Immunological agglutination pattern detection device.
  5. Falconer ; David G., Laser Raman/fluorescent device for analyzing airborne particles.
  6. Briggs Jonathan (Palo Alto CA), Limited volume method for particle counting.
  7. Lbbers Dietrich W. (Dortmund DEX), Membranes for optodes.
  8. Lubbers Dietrich W. (Dortmund DT) Opitz Norbert (Dortmund DT), Method and arrangement for measuring the concentration of gases.
  9. Lbbers Dietrich W. (Dortmund DEX), Optical measurement of concentration.
  10. Heitzmann, Harold A., Optical sensor with beads.
  11. Lbbers Dietrich W. (Dortmund DEX) Opitz Norbert (Dortmund DEX), Photometer including auxiliary indicator means.
  12. Wyatt, Philip J.; Quist, Gregory M., Process and apparatus for identifying or characterizing small particles.
  13. Wyatt Philip J. (Santa Barbara CA) Quist Gregory M. (Goleta CA), Process for characterizing suspensions of small particles.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Amorphic diamond film flat field emission cathode.
  2. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Amorphic diamond film flat field emission cathode.
  3. Kumar Nalin ; Xie Chenggang, Amorphic diamond film flat field emission cathode.
  4. Peng, Yihlih; Pinyan, James A., Coupling a light sensor array with an optical component.
  5. Peng,Yihlih; Pinyan,James A., Coupling a light sensor array with an optical component.
  6. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Diamond film flat field emission cathode.
  7. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Diode structure flat panel display.
  8. Kumar Nalin, Field emission display device.
  9. Kumar Nalin, Field emitter with wide band gap emission areas and method of using.
  10. Rösicke, Bernd; Hebestreit, Kai; Gässler-Dietsche, Claudia; Wehowski, Frederic, Integrated test element.
  11. Xie Chenggang (Cedar Park TX) Patterson Donald E. (Houston TX) Kumar Nalin (Canyon Lake TX), Method for producing thin uniform powder phosphor for display screens.
  12. Kumar Nalin (Canyon Lake TX), Method of making a field emitter.
  13. Kumar, Nalin; Xie, Chenggang, Method of making flat panel displays having diamond thin film cathode.
  14. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Methods for fabricating flat panel display systems and components.
  15. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Methods for fabricating flat panel display systems and components.
  16. Groger Howard P. ; Raymonda John ; Lo K. Peter ; Reynolds Roger L. ; Sullivan William F. ; Coolbaugh Myron T., Modular probe for total internal reflection fluorescence spectroscopy.
  17. Mengu.cedilla., M. Pinar; Manickavasagam, Sivakumar, Non-intrusive method and apparatus for characterizing particles based on scattering matrix elements measurements using elliptically polarized radiation.
  18. Groger Howard P. (Gainesville FL) Lo Peter (Blacksburg VA) Churchill Russell J. (Radford VA) Weiss Martin (New Port Richey FL) Luo Shufang (Blacksburg VA), Optical chemical sensor and method using same employing a multiplicity of fluorophores contained in the free volume of a.
  19. Klimant Ingo,DEX ; Holst Gerhard,DEX, Optical temperature sensors and optical-chemical sensors with optical temperature compensation.
  20. Kumar Nalin (Austin TX) Xie Chenggang (Cedar Park TX), Wire-mesh cathode.
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