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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0157196 (1988-02-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 17 인용 특허 : 4 |
A method of accurately determining the temperature of a thin layer of bandgap material without requiring contact to the layer involves the use of optical radiation through the layer and the detection of optical absorption by the layer. The relationship between the temperature varying bandgap energy
An improved temperature detection apparatus for a workpiece of a material having a direct bandgap energy which varies as a function of temperature, said apparatus comprising: a source of optical energy having a first spectral component with a photon energy greater than said bandgap energy at a given
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