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Wafer monitoring device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01P-013/00
출원번호 US-0050952 (1987-05-15)
발명자 / 주소
  • Baker Gregory G. (Gig Harbor WA) Boyle Edward F. (Gig Harbor WA)
출원인 / 주소
  • Roboptek, Inc. (Gig Harbor WA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 28  인용 특허 : 5

초록

A monitoring device for determining the presence or absence of wafer-like objects in a carrier having a plurality of shelves, each shelf being constructed to support one such object in an orientation normal to a carrier axis. The monitoring device may advantageously be used in an apparatus for handl

대표청구항

A monitoring device for determining the presence or absence of wafer-like objects in a carrier having a plurality of shelves, each shelf being constructed to support one such object in an orientation normal to a carrier axis, the device comprising: a first detector including means for detecting the

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Hudgins Jerry L. (Guntersville AL), Apparatus for sequentially transporting containers.
  2. Tullis Barclay J. (Palo Alto CA) ..AP: Hewlett-Packard Company (Palo Alto CA 02), Interlocking door latch for dockable interface for integrated circuit processing.
  3. Hrovath Julius G. (Houston TX), Misalignment sensor for a wafer feeder assembly.
  4. Bonora Anthony C. (Atherton CA), Precision specular proximity detector and article handing apparatus employing same.
  5. Foulke Richard F. (Carlisle MA) Lord Steven M. (Malden MA), Wafer transfer apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (28)

  1. Sagues Paul ; Peurach John T. ; Aggarwal Sanjay D., Automatic calibration system for wafer transfer robot.
  2. Teng,Kuo Hsing; Lo,Fu Shun; Tsai,Yi Chang, Calibration cassette pod for robot teaching and method of using.
  3. Rodnick, Matthew J., Dual sensing end effector with single sensor.
  4. Nomura Yasushi (Tokorozawa JPX), Electronic timepiece.
  5. Talieh, Homayoun; Young, Douglas W., Fluid bearing slide assembly for workpiece polishing.
  6. Mochida Tooru,JPX ; Baba Shinichi,JPX, Lead frame supplying method and apparatus.
  7. Andreas Mages DE; Werner Scheler DE; Herbert Blaschitz DE; Alfred Schulz DE; Heinz Schneider DE, Loading and unloading station for semiconductor processing installations.
  8. Andreas Mages DE; Werner Scheler DE; Herbert Blaschitz DE; Alfred Schulz DE; Heinz Schneider DE, Loading and unloading station for semiconductor processing installations.
  9. Mages, Andreas; Scheler, Werner; Blaschitz, Herbert; Schulz, Alfred; Schneider, Heinz, Loading and unloading station for semiconductor processing installations.
  10. Mages, Andreas; Scheler, Werner; Blaschitz, Herbert; Schulz, Alfred; Schneider, Heinz, Loading and unloading station for semiconductor processing installations.
  11. Bacchi Paul (Novato CA) Robalino Manuel J. (San Francisco CA), Method of orienting a specimen carrier holder in an automated specimen processing system.
  12. Mitchell Weiss, Person-guided vehicle.
  13. Tsai Po-Yueh,TWX ; Wang Rea-Chang,TWX ; Lin Te Yun,TWX ; Lin Y. F.,TWX, Safety interlock device for a standard manufacturing interface arm and equipment.
  14. Nakamura Gen,JPX, Substrate conveying system.
  15. Gilchrist, Ulysses, Substrate loading and unloading station with buffer.
  16. Gilchrist, Ulysses; Beaulieu, David R.; Van der Meulen, Peter F., Substrate loading and unloading station with buffer.
  17. Gilchrist, Ulysses; Beaulieu, David R.; Van der Meulen, Peter F., Substrate loading and unloading station with buffer.
  18. Gilchrist, Ulysses; Beaulieu, David R.; Van Der Meulen, Peter, Substrate loading and uploading station with buffer.
  19. Yasuhiro Maeda JP; Haruo Yoshida JP; Michiaki Endo JP, Surface state monitoring method and apparatus.
  20. Walker Delroy (Springdale MD) Zihmer Joseph (Frederick MD) Furches Danny (Columbia MD) Garmer Christopher J. (Rockville MD), System for transferring articles between controlled environments.
  21. Simondet, Sean D., Systems and methods incorporating an end effector with a rotatable and/or pivotable body and/or an optical sensor having a light path that extends along a length of the end effector.
  22. Kato Shigekazu (Kudamatsu JPX) Tamura Naoyuki (Kudamatsu JPX) Nishihata Kouji (Tokuyama JPX) Tsubone Tsunehiko (Hikari JPX) Itou Atsushi (Kudamatsu JPX) Nakata Kenji (Hikari JPX) Ogawa Yoshifumi (Hik, Vacuum processing system.
  23. Sagues Paul ; Gaudio Stephen A. ; Wong Tim K., Wafer aligner system.
  24. Yoo, Woo Sik; Kang, Kitaek, Wafer mapping apparatus and method.
  25. Rosenquist Frederick T. ; Richardson Bruce ; Fosnight William J. ; Bonora Anthony C., Wafer mapping system.
  26. Kenichi Yamaga JP; Yuji Ono JP; Masahiro Miyashita JP; Osamu Tanigawa JP, Wafer processing apparatus, method of operating the same and wafer detecting system.
  27. Kato Tomoo,JPX ; Kimura Keiji,JPX, Wafer transport device.
  28. Yen Tai-Yu,TWX ; Tsai Wen-Wang,TWX, Wafer-fetching sensing device for wafer storage apparatus.
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