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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0217790 (1988-07-12) |
우선권정보 | JP-0174534 (1987-07-13); JP-0174535 (1987-07-13); JP-0174536 (1987-07-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 8 |
A voltage detecting device for detecting voltages in an object under test including an electro-optic material covering a plurality of parts of the object under test; the refractive index of the electro-optic material being variable according to an applied voltage. A light source emits light through
A voltage detecting device for detecting voltages in an object to be measured, comprising: an electro-optic material for covering a plurality of positions of the object to be measured, and having a refractive index which varies according to a voltage applied thereto; a light source for emitting a li
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