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Voltage detector 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-019/00
  • G01R-031/00
  • G02F-001/09
출원번호 US-0199350 (1988-05-26)
우선권정보 JP-0137317 (1987-05-30)
발명자 / 주소
  • Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX)
출원인 / 주소
  • Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha (Shizuoka JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 6

초록

A voltage detector detects a voltage developing in a selected area of an object such as an integrated circuit by utilizing an electro-optic material equipped in an optical probe. A change in refractive index of an electro-optic material which is caused by the voltage in the object, is detected as a

대표청구항

A voltage detector for detecting a voltage developing in a selected area of an object to be measured, comprising: a pulse light source for emitting a pulse light beam; first guide means for guiding said light beam from said pulse light source; a voltage-sensing part including an electro-optic materi

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Matsumoto Mitsuo (Kokubunji JPX), Birefringence type measuring device.
  2. Ono Toshiharu (629 Tokyo JPX) Ikeda Sensaku (629 Tokyo JPX) Ohno Hideo (629 Ohshiba ; Mobara City ; Chiba Prefecture JPX), Light converting type detectors.
  3. Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
  4. Mourou Gerard (Rochester NY) Meyer Kevin E. (Rochester NY), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
  5. Taketomi Susamu (35-8 ; Higashisakamoto 2-chome Kagoshima City ; Kagoshima Prefecture JPX), Optical apparatus using anomalously strong magneto-birefringence of magnetic fluid.
  6. Ozeki Takeshi (Tokyo JPX), Optical sensing system.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Akishige Ito JP; Katsushi Ohta JP; Toshiyuki Yagi JP; Mitsuru Shinagawa JP; Tadao Nagatsuma JP; Junzo Yamada JP, Electro-optic probe.
  2. Akishige Ito JP; Katsushi Ohta JP; Toshiyuki Yagi JP; Mitsuru Shinagawa JP; Tadao Nagatsuma JP; Junzo Yamada JP, Electrooptic probe.
  3. Akishige Ito JP; Katsushi Ohta JP; Toshiyuki Yagi JP; Mitsuru Shinagawa JP; Tadao Nagatsuma JP; Junzo Yamada JP, Electrooptic probe.
  4. Meyrueix Paul (Paris FRX) Tremblay Gerard (Loudin CA FRX) Vernhes Jean P. (San Jose CA), Method and apparatus for electro-optically testing circuits.
  5. Ito Akishige,JPX ; Ohta Katsushi,JPX ; Yagi Toshiyuki,JPX ; Shinagawa Mitsuru,JPX ; Nagatsuma Tadao,JPX ; Yamada Junzo,JPX, Probe for electro-optic sampling oscilloscope.
  6. Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX) Nakamura Takuya (Shizuoka JPX), Voltage detecting device.
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