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Wafer scale package system and header and method of manufacture thereof 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05K-001/00
출원번호 US-0217146 (1988-07-01)
발명자 / 주소
  • Stopper Herbert (Orchard Lake MI) Perkins Cornelius C. (Birmingham MI)
출원인 / 주소
  • Mosaic Systems, Inc. (Troy MI 02)
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 13

초록

Disclosed is a wafer scale device 10, 201 on which is formed a layer of thin film as an interconnection system 203 with contact sites 202, 207 between the interconnection system 203 and die bonding sites 202 of the wafer 10, 201 to form a monolithic wafer. The interconnection system 203 has bonding

대표청구항

A wafer scale package system, comprising: a substantially rigid wafer based substrate which supports a plurality of integrated circuits, said substrate including a network of electrically conductive lines for selectively interconnecting said circuits together on said substrate, and a plurality of si

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Zimmerman Richard Henry (Palmyra PA), Conductor patterned substrate providing stress release during direct attachment of integrated circuit chips.
  2. Lee James H. (Wappingers Falls NY) Satya Akella V. S. (Wappingers Falls NY) Ghatalia Ashwin K. (Essex Junction VT) Thomas Donald R. (Westford VT), Electrical defect monitor structure.
  3. Honn ; James J. ; Stuby ; Kenneth P., Electrical package for LSI devices and assembly process therefor.
  4. Noyori Masaharu (Neyagawa JPX) Fujimoto Hiroaki (Neyagawa JPX), Electronics circuit device and method of making the same.
  5. Pappas Nicholas L. (Sunnyvale CA), Flexible mounting support for wafer scale integrated circuits.
  6. Buck Robert (Neukirch DEX) Lichte Norbert (Schlier DEX), Mounting structure for components of electronic switching device.
  7. Ibrahim Shawki (Lafayette IN) Elsner James E. (Lafayette IN), Multi-layer ceramic package.
  8. Brown Vernon L. (Boulder CO), Printed wiring board construction.
  9. Warwick William Arthur (Winchester EN), Semiconductor integrated circuit devices.
  10. McMahon ; Jr. Maurice T. (Wappingers Falls NY), Test circuitry for module interconnection network.
  11. Chapel ; Jr. Roy W. (Edmonds WA) Gurol I. Macit (Seattle WA), Thermally isolated monolithic semiconductor die.
  12. Stopper Herbert (Orchard Lake MI) Flasck Richard A. (Rochester MI), Universal interconnection substrate.
  13. Stopper Herbert (Orchard Lake MI), Wafer including test lead connected to ground for testing networks thereon.

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Shepherd William H. ; Wu Paul Y. F., Antifuse interconnect between two conducting layers of a printed circuit board.
  2. Nathan Richard J. (Morgan Hill CA) Lan James J. D. (Fremont CA) Chiang Steve S. (Saratoga CA), Apparatus including a programmable socket adapter for coupling an electronic component to a component socket on a printe.
  3. Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Wu Paul Y. F. ; Shepherd William H. ; Xie John Y. ; Jiang Hang, Ball grid array structure and method for packaging an integrated circuit chip.
  4. Nathan Richard J. ; Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Wu Paul Y. F. ; Osann ; Jr. Robert, Device-under-test card for a burn-in board.
  5. Kuo, Shun-Meen; Frear, Darrel R., Electronic component and method of manufacture.
  6. Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Shepherd William H. ; Wu Paul Y. F. ; Xie John Y., Method and structure to interconnect traces of two conductive layers in a printed circuit board.
  7. Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Wu Paul Y. F. ; Xie John Y., Method for supporting one or more electronic components.
  8. Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Wu Paul Y. F. ; Xie John Y., Multilayer board having insulating isolation rings.
  9. Nathan Richard J. ; Lan James J. D. ; Chiang Steve S., Programmable/reprogrammable printed circuit board using fuse and/or antifuse as interconnect.
  10. Lan James J. D. ; Chiang Steve S. ; Shepherd William H. ; Wu Paul Y. F., Programmable/reprogrammable structure using fuses and antifuses.
  11. Shepherd William H. ; Chiang Steve S. ; Xie John Y., Use of conductive particles in a nonconductive body as an integrated circuit antifuse.
  12. Nistler John L. ; May Charles E. ; Morrissey Kenneth J., Useable drop-in strategy for correct electrical analysis of semiconductor devices.
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