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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | B32B-003/00 |
미국특허분류(USC) | 428/137 ; 428/211 ; 428/413 ; 428/5375 |
출원번호 | US-0275890 (1988-11-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 12 |
A laminated antistatic electrical test mask for use with bed-of-nails test equipment in analyzing electrical properties between locations on a circuit board or card wherein the mask material prevents unused probes from contacting the product to be tested. The mask includes a plurality of layers comprised alternatively of cured glass cloth and a hygroscopic material, with a plurality of apertures disposed through the mask for receipt of test probes. In a particular embodiment, the layers are comprised of prepreg and a cellulose-containing material such as...
An antistatic mask for use with a bed-of-nails type electronic card tester having a plurality of pin probes and electronic switches associated therewith comprising a plurality of first layers of a hygroscopic material; a plurality of second layers of insulative support material, each of said second layers being disposed between a different pair of said first layers; and a plurality of aperture means defined by and extending through said first and second layers and substantially normal to a plane defined by said first and second layers for receiving said ...