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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0322001 (1989-03-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 46 인용 특허 : 1 |
An atomic force microscope which is readily useable for researchers for its intended use without extensive lost time for setup and repair. The probe used therein is a cantilevered optical lever which imparts surface information in a gentle and reliable manner by reflecting an incident laser beam. Th
An atomic force microscope which is quickly and easily set up and in which the probe thereof is easily replaceable and resists breakage during setup comprising: (a) a horizontal base member; (b) a scan tube vertically supported at a bottom end by said base member and having a top surface for holding
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