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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0333605 (1989-04-04) |
우선권정보 | DE-3811371 (1988-04-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 171 인용 특허 : 2 |
A method for charging and simultaneously testing the condition of a nickel-cadmium accumulator wherein the charging cycle includes intervening measuring phases with discharging phases of relatively short duration. During the measuring phases, the internal resistance of the accumulator is measured un
A method for charging and simultaneously testing the condition of a nickel-cadmium accumulator using a pulsing DC charging current of rectangular pulse shape including periods of low current intensity and periods of high current intensity, with cyclically intervening measuring phases including disch
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