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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | G06F-015/32 G01M-003/32 G01K-013/00 |
미국특허분류(USC) | 364/558 ; 73/52 ; 374/4 ; 364/557 |
출원번호 | US-0173077 (1988-03-25) |
우선권정보 | GB-0007231 (1987-03-26) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 3 |
A microprocessor is employed to control a test program which operates to cause a component under test to be filled (or evacuated) to a predetermined pressure P2 at which a leak test is to be carried out. The test program is arranged firstly to perform a rapid test at atmospheric pressure P1 to determine the pressure change dpl′/dt in the component due to the temperature fluctuation. The component is then filled (or evacuated) automatically to the test pressure PT, at which the leak check is carried out. Temperature compensation is achieved by subtracting...
A method for accurately determining the actual leak rate from a test vessel of unknown leaking characteristics, said method comprising the steps of: providing a calibration vessel known to be substantially free of leaks; filling the calibration vessel with air to prevailing atmospheric pressure, P1; altering the temperature in the calibration vessel from ambient temperature; sealing the calibration vessel; generating and storing a signal corresponding to the rate of change of pressure in the calibration vessel to determine dP1/dt; altering the volume of ...