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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0177749 (1988-04-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 20 |
Apparatus for environmental stress screening of electronic components includes a chamber having a wall defining an opening therein. A product carrier pallet has a portion dimensioned and configured to inserted in the opening. The portion of the product carrier pallet has a periphery and structure is
The apparatus for environmental stress screening electronic components which comprises: a substantially closed chamber having opposed walls defining respective first and second openings therein, said first and second openings being dimensioned for passage of said product carrier module and being sub
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