$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Environmental stress screening apparatus for electronic products

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-001/02
  • G01R-001/04
출원번호 US-0177749 (1988-04-05)
발명자 / 주소
  • Szasz Norbert I. (Fremont CA) Shaw Russell G. (Contoocook NH)
출원인 / 주소
  • General Signal Corporation (Stamford CT 02)
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 20

초록

Apparatus for environmental stress screening of electronic components includes a chamber having a wall defining an opening therein. A product carrier pallet has a portion dimensioned and configured to inserted in the opening. The portion of the product carrier pallet has a periphery and structure is

대표청구항

The apparatus for environmental stress screening electronic components which comprises: a substantially closed chamber having opposed walls defining respective first and second openings therein, said first and second openings being dimensioned for passage of said product carrier module and being sub

이 특허에 인용된 특허 (20)

  1. Worcester John L. (Walnut Creek CA) Hubbs John C. (Lafayette CA), Apparatus for testing electronic devices having a high density array of pin leads.
  2. Cutright Robert A. (Holland MI) Briggs Mark W. (Holland MI) Bouwman George J. (Hamilton MI), Apparatus for use in testing circuit boards.
  3. Takahashi Nobuyuki (Tokyo JPX) Sugimoto Ryuji (Tokyo JPX) Shirai Yasuyuki (Tokyo JPX), Automatic loader.
  4. Bradshaw James I. (Houston TX), Burn-in chamber.
  5. Anderson Jared A. (Woodside CA) Van Gelder Robert V. (Berkeley CA) Yazolino Lauren F. (Oakland CA) Braun Jimmy E. (Orange CA), Circuit board mounting and cooling assembly.
  6. Sleger Leon F. (Wakefield MA) DiNozzi Robert D. (Beverly MA), Component verifier.
  7. Santomango, Anthony; Hatheway, Jr., Nicholas N., Electronic burn-in system.
  8. Cronin Michael J. (Sherman Oaks CA) Elliot David K. (Burbank CA), Electronic enclosure and articulated back panel for use therein.
  9. Keel Jerry L. (Harvest AL) Hines Thomas M. (Harvest AL) Davis Glen (Madison AL) Parks William E. (Madison AL), Environmental stress screening apparatus.
  10. Young David N. (Glenrothes GB6), Heating oven.
  11. Rochat Daniel F. (St-Blaise CA CHX) Ogawa Chuck C. (Irvine CA) Bui Uyen D. (Placentia CA), Method and apparatus for testing electro-mechanical devices.
  12. Guarino Nicholas (Arlington MA), Module positioning apparatus.
  13. Miille Jerry L. (1303 Gulf Pasadena TX 77502), Pneumatic-digital converter system and method.
  14. Becker ; Harry ; Doerflinger ; Karl ; Ey ; Klaus ; Reiter ; Georg ; Rutzm oser ; Hermann ; Theus ; Richard, Receptacle fixture for equipment units in electrical communication technology.
  15. Worsham Daniel (San Jose CA), Rotary vacuum seal for a wafer transport system.
  16. Lawler Joseph A. (Flossmoor IL), Temperature controlled oven.
  17. Lawler Joseph A. (Flossmoor IL) Viero Lawrence G. (Oak Forest IL), Temperature controlled oven with internal filter.
  18. Lawler Joseph A. (Flossmoor IL), Temperature-controlled oven.
  19. Yoshizaki Tsutomu (Yokosuka JPX), Testing equipment for electric components.
  20. Bednorz Johannes G. (Adliswil CHX) Gueret Pierre L. (Richterswil CHX) Nievergelt Hermann E. (Adliswil CHX) Ott Hanspeter (Thalwil CHX) Pohl Wolfgang D. (Adliswil CHX) Widmer Daniel F. (Hirzel CHX), Vacuum transfer device.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Biery Glenn A. (Poughkeepsie NY) Boyne Daniel M. (Wappingers Falls NY) Rodbell Kenneth P. (Poughquag NY) Smith Richard G. (Poughkeepsie NY) Wood Michael H. (Hopewell Junction NY), Dual channel d.c. low noise measurement system and test methodology.
  2. Cochran John ; Perry Roger L., Environmental test apparatus with ambient-positioned card support platform.
  3. Cochran John ; Perry Roger L., Environmental test apparatus with partition-isolated thermal chamber.
  4. Siddiqui, Shakeel M.; Tymofyeyev, Vadim, Method and apparatus to provide a burn-in board with increased monitoring capacity.
  5. Siddiqui,Shakeel M.; Tymofyeyev,Vadim, Method and apparatus to provide a burn-in board with increased monitoring capacity.
  6. Yong Jaimsomporn TH; Tanawat Boutngam TH; Narupon Tabtimted TH, Method and system for adapting burn-in boards to multiple burn-in systems.
  7. John Cochran ; Roger L. Perry, Product carrier for environmental test system.
  8. Johnson,Edward A., Quick disconnect interface for environmental testing.
  9. Eric D. Berchtold, Refrigeration system with a scroll compressor.
  10. Slocum Alexander H., System to simultaneously test trays of integrated circuit packages.
  11. Schulze, James M.; Ewing, Kevin D.; Peterson, Clinton A.; Walker, Richard L.; Hayes, Robert K., Universal access port.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트