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Methods and apparatus for measuring transverse dimensions of workpieces

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/46
출원번호 US-0276657 (1988-11-28)
우선권정보 GB-0028016 (1987-11-30)
발명자 / 주소
  • Grosvenor Roger I. (Cardiff GB7)
출원인 / 주소
  • National Research Development Corporation (London GB2 03)
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 4

초록

In computer control of machine tools there is a need to measure the diameters of cylindrical workpieces automatically and preferably without touching the workpiece. For this purpose an inductive proximity sensor is mounted for circular or linear movement along a path adjacent to a cylindrical workpi

대표청구항

A method of deriving a dimension of an object transverse to an axis of the object and at least partly defined by a surface of the object, the method comprising the steps of: moving a non-contacting distance-measuring sensor along a predetermined path while repeatedly measuring a distance between sai

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Nagashima Kazuo (Shizuoka JPX), Control system for roll grinding machine.
  2. Bennett Robert R. (Eugene OR) Nosler John C. (Eugene OR), Electro-optical ranging system for distance measurements to moving targets.
  3. Caron Paul R. (Tiverton RI) Fain Gilbert (Freetown MA) Estes Lee E. (Mattapoisett MA), Method of determining circularity and mean radius of closed curved surface.
  4. Siddall Graham John (Keyworth EN) Player Michael Antony (Aberdeen SC), Surface measurement instruments.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Reed Robert W. (South Windsor CT) Kartsen Douglas A. (Manchester CT) Akerley Stevan W. (Durham CT), Aligning average axis of hollow workpiece cavity with rotary machine axis.
  2. Kobayashi, Hiroyuki, Machine control gage system performing roundness measuring function.
  3. Shibata, Tomohiro; Kameyama, Tomohisa, Machine tool.
  4. Tuck Paul B. (Wilmington NC) Gilmore Gregory C. (Wilmington NC), Pilger mill mandrel measuring device.
  5. Sato Mitsuo,JPX ; Uchida Hiroshige,JPX, Semiconductor fabrication apparatus.
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