최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0855851 (1986-04-24) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 40 인용 특허 : 5 |
An internal calibration source for an infrared radiation detector has a low emissivity surface with a high emissivity reticle thereon. An image of the detector is focused on the surface so that it is retroreflected back to the detector. The image is scanned between the high and low emissivity region
An internal calibration source for an infrared radiation detector which scans a normal field of regard; a low emissivity surface with a high emissivity reticle thereon; means to focus an image of said detector on said surface so that said image is retroreflected back to said detector; and means to s
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.