최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0298920 (1989-01-19) |
우선권정보 | JP-0011725 (1988-01-21) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 59 인용 특허 : 4 |
A defect inspecting apparatus for determining the presence of a defect element adhering to either of the front and back surfaces of a thin film-like object to be inspected (the object having a light-transmitting property) applies two light beams of different wavelengths to a surface of the object an
A defect inspecting apparatus for determining the presence of a defect element adhering to either of the front and back surfaces of a thin film-like object to be inspected having a light-transmitting property, comprising: applying means for applying two light beams of different wavelengths to one su
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.