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Electrical signal observing device for converting an electrical signal to be measured into an optical intensity waveform 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-013/20
출원번호 US-0357824 (1989-05-26)
우선권정보 JP-0133420 (1988-05-31)
발명자 / 주소
  • Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX)
출원인 / 주소
  • Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha (Shizuoka JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 6

초록

An electrical signal observing device has an optical signal as a probe for converting the voltage or current waveform to be measured into an optical intensity waveform. This optical intensity waveform is converted into a signal which can be used by a signal observation device. A continuous wave ligh

대표청구항

An electrical signal observing device having an optical signal as a probe for converting the waveform of an electrical signal to be measured into an optical intensity waveform to obtain an observation signal, comprising: a light source for generating a continuous wave optical signal; optical amplify

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Chollet Pierre-Alain (Clamart FRX) Kajzar Francois (Voisins le Bretonneux FRX) Messier Jean (Gif Sur Yvette FRX), Device for measuring an electrical field by an optical method.
  2. Tsuchiya Yutaka (Hamamatsu JPX) Koishi Musubu (Hamamatsu JPX) Takeshima Akira (Hamamatsu JPX), Instruments for measuring light pulses clocked at high repetition rate and electron tube devices therefor.
  3. Tsuchiya Yutaka (Hamamatsu JPX) Koishi Musubu (Hamamatsu JPX) Takeshima Akira (Hamamatsu JPX), Instruments for measuring light pulses clocked at high repetition rate and electron tube devices therefor.
  4. Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
  5. Dimmick Paul R. (Los Angeles CA), Motion analyzing system.
  6. Morgan Peter J. (Allen TX) Carter Andrew C. (Northamptonshire GB2) Davis Richard (Northamptonshire GB2) Randle Frederick A. (Northamptonshire GB2), Optical connecting arrangements.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Taira, Kenji; Yajima, Hiroyoshi; Takimoto, Shinichi, Optical inspection device, electromagnetic wave detection method, electromagnetic wave detection device, organism observation method, microscope, endoscope, and optical tomographic image generation device.
  2. Takeuchi Nobuaki,JPX ; Yanagisawa Yoshiki,JPX ; Kikuchi Jun,JPX ; Banjou Nobukazu,JPX ; Endou Yoshio,JPX ; Shinagawa Mitsuru,JPX ; Nagatsuma Tadao,JPX ; Yamada Junzo,JPX, Timing generation circuit for an electro-optic oscilloscope.
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