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Method and apparatus for detecting the presence of flaws in a moving sheet of material 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/88
출원번호 US-0352197 (1989-05-16)
발명자 / 주소
  • Cielo Paolo (Montreal CAX) Dufour Marc (Montreal CAX) Vaudreuil Ghislain (Boucherville CAX)
출원인 / 주소
  • Canadian Patents and Development Limited/Societe Canadienne des Brevets et d\Exploitation Limitee (Ottawa CAX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 29  인용 특허 : 14

초록 ▼

The present disclosure describes an apparatus and a method for detecting the presence of flaws in a moving sheet of material. The apparatus comprises a light source for projecting a light beam; a beam shaping unit for shaping the light beam into a predetermined structured light pattern, and projecti

대표청구항 ▼

An apparatus for detecting the presence of flaws in a moving sheet of material, comprising: a coherent laser light source for projecting a light beam; beam shaping means for shaping said light beam into a predetermined structured light pattern, and projecting said structured light pattern onto a por

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Curl, Barry J., Apparatus for determining with high resolution the position of edges of a web.
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  2. Neiheisel Gary L. (Cincinnati OH) Hoover Bradley R. (Hamilton OH), Automatic defect detecting inspection apparatus.
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  3. Steigmeier Edgar F. (Hedingen CHX) Knop Karl (Zurich CHX), Defect detection system.
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  4. Sick Erwin (Icking DEX) Schenk Christoph (Icking DEX), Grooved surface defect detection apparatus.
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  5. Seki Takeo (Kokubunji JA) Maeda Itsuji (Akishima JA), Method and apparatus for detecting defects in a surface regardless of surface finish.
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  6. Hategan Stephane (Charenton FR), Method and apparatus for detecting optical defects in transparent sheets.
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  7. Pryor Timothy R. (Windsor CAX) Hageniers Omer L. (Windsor CAX) Pastorius Walter J. (Windsor CAX) Liptay-Wagner Nicholas (Windsor CAX) Clarke Donald A. (Windsor CAX), Method and apparatus for determining physical characteristics of objects and object surfaces.
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  8. Hirvonen Kullervo (Varkaus FIX) Karonen Aimo (Varkaus FIX), Method for identifying timber surface properties.
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  9. Pernick Benjamin J. (Hampton Bays NY), Optical flaw detection method and apparatus.
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  10. Clarke Donald A. (Windsor CAX) Reynolds Rodger L. (Windsor CAX) Pryor Timothy R. (Tecumseh CAX), Panel surface flaw inspection.
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  11. Leuenberger Rolf (Pfffikon CHX) Hunziker Christian (Mnchaltorf CHX), Process and device for automatically detecting faults in fabrics and similar textile sheet-like structures.
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  12. Anthon Erik W. (Santa Rosa CA), Scattermeter using polarized light to distinguish between bulk and surface scatter.
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  13. Nakagawa Yasuo (Yokohama JPX) Hamada Toshimitsu (Tokyo JPX), Surface detect test apparatus.
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  14. Chastang Jean-Claude A. (Mahopac NY) Hildenbrand Walter W. (Brewster NY) Levanoni Menachem (Yorktown Heights NY), Ultra-fast photometric instrument.
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이 특허를 인용한 특허 (29)

  1. Albert D. Edgar, Apparatus and method for defect channel nulling.
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  2. Nakajima,Takeshi; Higuchi,Manabu; Wakita,Takeshi, Apparatus and method for inspecting film defect.
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  3. Yamaguchi, Yukihiko; Murai, Koichi, Apparatus and method for inspecting light transmittable material.
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  4. Martin Potucek ; Albert D. Edgar ; Darryl R. Polk, Apparatus and methods for capturing defect data.
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  5. Anthony James Cronshaw GB; Mark Robson Humphries GB; Christopher James Hodges GB; John Horace Fisher GB, Apparatus for surface image sensing and surface inspection of three-dimensional structures.
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  6. Kuo C. C. ; Claiborne Jimmy D. ; Cantrell Henry L. ; Turner Steve T. ; Wethington Glenn, Digital signal processor knitting scanner.
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  7. Ford,Gordon D.; Lester,Leland A.; Iglehart,David C., Distinguishing positive and negative films system and method.
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  8. Stavely Donald J. ; Bloom Daniel M. ; Battles Amy E. ; Campbell David K. ; Herrera E. Oscar R., Film scanner with dust and scratch correction by use of dark-field illumination.
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  9. Albert D. Edgar, Four color trilinear CCD scanning.
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  10. Albert D. Edgar, Image defect correction in transform space.
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  11. Markku Mustonen, Imaging system for high-speed paper webs.
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  12. Ford, Gordon D., Lens focusing device, system and method for use with multiple light wavelengths.
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  13. Edgar, Albert D., Luminance-priority electronic color image sensor.
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  14. Ford, Gordon D., Method and apparatus for correcting heavily damaged images.
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  15. Ford, Gordon D.; Lester, Leland A., Method and apparatus for correcting large defects in digital images.
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  16. Martin Potucek ; Albert D. Edgar ; Thomas A. Dundon, Method and apparatus for differential illumination image-capturing and defect handling.
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  17. Ford, Gordon D.; Lester, Leland A.; Iglehart, David C., Method and apparatus for reducing the effect of bleed-through on captured images.
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  18. Edgar, Albert D.; Penn, Steven C., Method and apparatus for scanning images.
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  19. Albert D. Edgar ; Raymond S. Lee, Method and system for altering defects in a digital image.
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  20. Edgar, Albert D.; Lee, Raymond S., Method and system for altering defects in a digital image.
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  21. Lee, Raymond S., Method and system for altering defects in digital image.
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  22. Ford, Gordon D.; Dundon, Thomas A.; Edgar, Albert D.; Potucek, Martin; Lee, Raymond S., Method and system for multi-sensor signal detection.
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  23. Edgar,Albert D., Method, system and software for correcting image defects.
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  24. Edgar, Albert D.; Penn, Steven C., Multilinear array sensor with an infrared line.
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  25. Itagaki,Nobutaka, Pointing device.
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  26. Eisen, Juergen; Zwerger, Lars, Sensor for capturing a moving material web.
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  27. Edgar, Albert D.; Dundon, Thomas A., System and method for correcting defects in digital images through selective fill-in from surrounding areas.
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  28. Capaldo,Kevin Patrick; Cheverton,Mark; Harding,Kevin George; Tait,Robert, System and method for detecting defects in a light-management film.
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  29. Wolfe, Kenneth I., Web inspection system having enhanced video signal preprocessing.
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