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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0378483 (1989-07-11) |
우선권정보 | DE-3343043 (1983-11-28); DE-3414984 (1984-04-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 12 |
A system and method for optically measuring simultaneously the emissivity and temperature of an object and the ambient temperature with a successive determination of values of spectral radiance or spectral radiant intensity in n wavelength bands in the visible and/or infrared radiation bands and wit
An apparatus for optically measuring simultaneously the emissivity and temperature of an object by consecutively determining the values of spectral radiance in n wavelength region in ultraviolet, visible and infrared bands, comprising: a telescope for viewing the object; a spectral measuring device
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