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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0470665 (1990-01-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 28 인용 특허 : 1 |
A technique based on synthetic aperture radar (SAR) interferometry is used to measure very small (1 cm or less) surface deformations with good resolution (10 m) over large areas (50 km). It can be used for accurate measurements of many geophysical phenomena, including swelling and buckling in fault
A method for detecting surface motions or mapping small terrestrial or planetary surface deformation changes over large areas using synthetic aperture radar comprising the steps of making two synthetic aperture radar images sequential in time, but of the same area with flight paths substantially dup
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