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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0371475 (1989-06-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 7 |
An electrooptic measuring apparatus having both high voltage sensitivity and femtosecond time resolution includes coplanar transmission lines fabricated on a semi-insulating multiple quantum well structure. An electrical signal, such as from a high speed electronic device, injected onto the transmis
An electrooptic apparatus for measuring a characteristic of an electrical signal comprising: a multiple quantum well structure comprising substantially semi-insulating semiconductor material; first and second coplanar transmission lines positioned over said multiple quantum well structure; means for
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