$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

도움말도움말
상세검색 다국어 입력

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

MyON담기
내보내기 페이스북 공유 카카오톡 공유

Focus detecting device

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G03B-013/36   
미국특허분류(USC) 354/403 ; 354/406 ; 354/408
출원번호 US-0343665 (1989-04-27)
우선권정보 JP-0108801 (1988-04-28); JP-0171846 (1988-07-12); JP-0189654 (1988-07-30)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 10
초록

A focus detecting device of the type in which the amount of focus adjustment is found from the amount of image deviation between object images formed on first and second sensor arrays. The magnitude of the regularity of the image pattern or the magnitude of the brightness/darkness deviation rate or the shape similarity is discriminated and light projection means is operated when the regularity is great or when the brightness/darkness deviation rate or the shape similarity is small.

대표
청구항
▼

A focus detecting device for detecting a focusing state of an imaging optical system or a distance to an object on the basis of outputs from first and second photoelectric converting portions receiving light from the object, comprising: (a) a calculation circuit for calculating regularity of a brightness-darkness pattern of the object for regularity of output signals of said photoelectric converting portions, on the basis of the outputs of said photoelectric converting portions; and (b) a discrimination circuit for discriminating strength of the regulari...

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Akashi Akira (Kanagawa JPX) Yamada Masanori (Kanagawa JPX). Automatic focusing device. USP1989024803507.
  2. Akashi Akira (Kanagawa JPX) Yamada Masanori (Kanagawa JPX). Automatic focusing device with low light contrast inhibiting means. USP1986104617459.
  3. Tejima Yasuyuki (Tokyo JPX) Sugawara Saburo (Tokyo JPX) Yuda Hideaki (Tokyo JPX). Auxiliary light projecting apparatus for a focus detecting system. USP1988094771308.
  4. Kawamura Masaharu (Kanagawa JPX) Hiramatsu Akira (Kanagawa JPX). Auxiliary light source for camera having automatic focusing device. USP1987094693582.
  5. Akashi Akira (Yokohama JPX). Camera incorporating automatic focusing apparatus. USP1989014801962.
  6. Akashi Akira (Yokohama JPX) Ishizaki Akira (Yokohama JPX) Hiramatsu Akira (Yokohama JPX) Suda Yasuo (Yokohama JPX) Ohtaka Keiji (Tokyo JPX). Focus detecting apparatus. USP1986104618236.
  7. Matsui Toru (Sakai JPX). Focus detecting device for camera. USP1989054835561.
  8. Koyama Takeshi (Tokyo JPX) Ohtaka Keiji (Tokyo JPX). Focus detecting system. USP1989014801963.
  9. Suzuki, Kenji. Focus detecting system using light from an imaging optical system for focus detection. USP1985124559446.
  10. Matsui Tohru (Sakai JPX) Egawa Takeshi (Osaka JPX). Focus detection system and lighting device therefor. USP1989054827301.

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 18

  1. Miyashita, Tomoyuki. Calculation method and apparatus of exposure condition, and exposure apparatus. USP2010127852477.
  2. Nonaka Osamu,JPX. Camera with distance measuring apparatus for preferentially controlling passive and active type AF system. USP2001046222996.
  3. Cui, Xiquan; Lee, Lap Man; Yang, Changhuei. Focal plane adjustment by back propagation in optofluidic microscope devices. USP2012128325349.
  4. Aoyama Keisuke (Yokohama JPX). Focus detecting apparatus detecting focus to a plurality of areas. USP1996105568222.
  5. Akashi Akira,JPX ; Miyawaki Mamoru,JPX ; Suzuki Kenji,JPX ; Nakayama Toshiki,JPX. Focus detecting apparatus having photoelectric area sensors. USP1998075784655.
  6. Onoda Hitoshi,JPX ; Kadohara Terutake,JPX ; Yoshida Tomokazu,JPX. Focus detecting device, distance measuring device, and optical apparatus for adjusting focus. USP2001016175692.
  7. Uchiyama Shigeyuki (Tokyo JPX). Focus state detection device and method. USP1997065640618.
  8. Aoki, Takashi. Imaging device and imaging method. USP2015119185389.
  9. Kusaka, Yosuke. Imaging device, camera and image processing method. USP2010107812881.
  10. Zheng, Guoan; Yang, Changhuei. Light-field pixel for detecting a wavefront based on a first intensity normalized by a second intensity. USP2014098822894.
  11. Akashi Akira (Yokohama JPX). Optical apparatus having function to detect visual axis. USP1996115576796.
  12. Aoyama Keisuke,JPX. Optical apparatus with focus adjusting function and focus adjustment control circuit. USP2000076088539.
  13. Aoyama Keisuke,JPX. Optical apparatus with focus adjusting function and focus adjustment control circuit. USP2000126157782.
  14. Onoda,Hitoshi; Ohtaka,Keiji; Kadohara,Terutake. Optical device and method for selecting object of focus. USP2006077071985.
  15. Fukuda Hiroyuki,JPX. Photometric device and method for a camera. USP2000076091908.
  16. Cui, Xiquan; Yang, Changhuei. Quantitative differential interference contrast (DIC) devices for computed depth sectioning. USP2014028660312.
  17. Cui, Xiquan; Yang, Changhuei; Tearney, Guillermo J.. Wavefront imaging devices comprising a film with one or more structured two dimensional apertures and their applications in microscopy and photography. USP2013098525091.
  18. Cui, Xiquan; Yang, Changhuei. Wavefront imaging sensor. USP2013048416400.

IPC 상위 출원인