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특허 상세정보

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Voltage measuring apparatus

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-031/00    G01R-019/00   
미국특허분류(USC) 324/96 ; 324/77K ; 324/98 ; 250/225
출원번호 US-0390768 (1989-08-08)
우선권정보 JP-0251532 (1988-10-05)
발명자 / 주소
  • Takahashi Hironori (Shizuoka JPX) Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX)
출원인 / 주소
  • Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha (Shizuoka JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 5
초록
▼

A voltage measuring apparatus comprises an optical probe furnished with an electro-optic material whose refractive index is changed in accordance with a voltage developing in a given part of an object and an auxiliary electrode for terminating electric lines of force coming from the given part, a light source for producing light to be inputted to the electro-optic material, a light polarization detector for detecting a polarization state of output light from the electro-optic material, and a power source for applying a variable voltage to the auxiliary e...

대표
청구항
▼

A voltage measuring apparatus for measuring a first voltage developing in a given part of an object, comprising: an optical prove comprising an electro-optic material for sensing said first voltage as a change in its refractive index, and an auxiliary electrode for terminating electric lines of force coming from said given part; a light source for producing a light beam to be supplied to said electro-optic material, said light beam to be supplied having a first polarization state; light detecting means for detecting a change between the first polarizatio...

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
  2. Mourou Gerard (Rochester NY) Meyer Kevin E. (Rochester NY), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
  3. Mourou Gerard (Rochester NY) Valdmanis Janis A. (Westfield NJ), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
  4. Selkner Gerald (Linz DEX), Mechanical probe for optical measurement of electrical signals.
  5. Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX), Voltage detector employing electro-optic material having a corner-cube shape.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Davidson, James R.; Seifert, Gary D., Electro-optic high voltage sensor.
  2. James R. Davidson ; Gary D. Seifert, Electro-optic high voltage sensor.
  3. Akishige Ito JP; Katsushi Ohta JP; Toshiyuki Yagi JP; Mitsuru Shinagawa JP; Tadao Nagatsuma JP; Junzo Yamada JP, Electro-optic probe.
  4. Akishige Ito JP; Katsushi Ohta JP; Toshiyuki Yagi JP; Mitsuru Shinagawa JP; Tadao Nagatsuma JP; Junzo Yamada JP, Electrooptic probe.
  5. Wakana Shin-ichi,JPX ; Miyamoto Akinori,JPX ; Hama Soichi,JPX ; Ozaki Kazuyuki,JPX ; Nagai Toshiaki,JPX, Electrooptic voltage waveform measuring method and apparatus.
  6. Wakana Shin-ichi,JPX ; Miyamoto Akinori,JPX ; Hama Soichi,JPX ; Ozaki Kazuyuki,JPX ; Nagai Toshiaki,JPX, Electrooptic voltage waveform measuring method employing light sampling technique using Pockels effect.
  7. Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX), Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same.

IPC 상위 출원인