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Process and apparatus for producing temperature profiles in a workpiece as it passes through a belt furnace 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05D-023/00
  • G06F-015/46
  • H05B-006/64
출원번호 US-0370370 (1989-06-22)
발명자 / 주소
  • Rackerby Robert E. (San Diego CA) Zimmerman Jon L. (Escondido CA)
출원인 / 주소
  • Unisys Corporation (Blue Bell PA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 9

초록

A given target temperature profile T is produced in a workpiece as it passes through an elongated passageway of a belt furance by the steps of: (1) determining a set of temperature setting TSX for the belt furnace thermostats which satisfy an equation f(aX,CFY)�T where aY is a set of correction fact

대표청구항

A manufacturing system, for producing a target temperature profile T in a workpiece; said system comprising: a belt furnace which has a plurality of spaced apart heaters in an elongated passageway and respective thermostats for said heaters; and a controller for selecting a set of settings TSX for s

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Curreri Victor (Setauket NY) Klein John F. (Port Washington NY) Dubois Janine E. (Shirley NY), Computerized multi-zone crystal growth furnace precise temperature and heating control method.
  2. Reynolds ; Jr. Carl D. (Clinton TN), Kiln for hot-pressing compacts in a continuous manner.
  3. Weiss Hardy P. (Htter CHX), Method and apparatus for a non-contact measuring of a temperature of a body.
  4. Shibamata Yoshiyuki (Machida JPX) Onodera Hideo (Kawasaki JPX) Kiriseko Tadashi (Kanagawa JPX), Method and apparatus for heating semiconductor wafers.
  5. Rignall Michael W. (Dursley GB3), Oven for the burn-in of integrated circuits.
  6. Clyne Carl W. (St. Louis County MO) Woolever Gary L. (Madison County MO) Teng James (St. Louis County MO) Naji Hooshang (St. Louis MO), Pasteurization monitoring process.
  7. Motomiya Takehiko (Tokyo JPX) Ogawa Shigeu (Tokyo JPX), Pattern-switching temperature control apparatus.
  8. Lee Chunghsin (Lynnfield MA), Rapid thermal furnace for semiconductor processing.
  9. Gentry Charles B. (Belmont MI) Dietz David R. (Grand Rapids MI), Temperature control system.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Uchida Hiroki,JPX ; Sakuyama Seiki,JPX, Apparatus for setting heating condition in heating furnace and thermal analyzer for object to be heated in heating furnace.
  2. Hamann, Hendrik F.; Iyengar, Madhusudan K.; Lacey, James A.; Schmidt, Roger R., Apparatus for thermal characterization under non-uniform heat load.
  3. Hamann, Hendrik F.; Iyengar, Madhusudan K.; Lacey, James A.; Schmidt, Roger R., Apparatus for thermal characterization under non-uniform heat load.
  4. Hamann, Hendrik F.; Iyengar, Madhusudan K.; Lacey, James A.; Schmidt, Roger R., Apparatus for thermal characterization under non-uniform heat load.
  5. Temme John D., Brazing furnace parts feeding control.
  6. Austen, Paul M.; Breunsbach, Rex L., Conveyor oven profiler with simplified temperature sensor connection scheme.
  7. Badeer, Gilbert H., Engine thrust bearing condition monitoring method.
  8. Philip C. Kazmierowicz ; Eric Dransfeldt ; Stanley Douglas Schultz, Method and apparatus for controlling temperature response of a part in a conveyorized thermal processor.
  9. Schultz, Steven Arthur; Kazmierowicz, Philip C., Method and apparatus for optimizing control of a part temperature in conveyorized thermal processor.
  10. Kazmierowicz, Philip C.; Moreau, Miles F., Method for correcting process temperature profile in a multi-zone thermal processor.
  11. Kazmierowicz Philip C. ; Schultz Steven Arthur, Method for correlating processor and part temperatures using an air temperature sensor for a conveyorized thermal processor.
  12. Steven Arthur Schultz ; Philip C. Kazmierowicz, Method for maximizing throughput of a part in a conveyorized thermal processor.
  13. Sopori, Bhushan L., Optical cavity furnace for semiconductor wafer processing.
  14. DiPaolo Nunzio (Poughkeepsie NY) Ferguson Daniel J. (Marlboro NY), Process and apparatus for contamination-free processing of semiconductor parts.
  15. Katz Robert Paul ; Olah William Wayne ; Roberts William Bernice, Sequential step belt furnace with individual concentric cooling elements.
  16. Olah William Wayne ; White Thomas Paul, Sequential step belt furnace with individual concentric heating elements.
  17. Olah William Wayne ; White Thomas Paul, Sequential step belt furnace with individual concentric heating elements.
  18. Harihara, Parasuram Padmanabhan; Li, Meng, Systems and methods for adaptive microwave drying of ceramic articles.
  19. Nakatani, Rintaro, Thermal analyzer.
  20. Sopori, Bhushan; Rupnowski, Przemyslaw, Wafer screening device and methods for wafer screening.
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