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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0347348 (1989-05-04) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 23 인용 특허 : 47 |
A contour measuring apparatus and method of using the same is disclosed to measure the three-dimensional contour of a surface. Structure is provided to direct first light beams onto the surface being measured. Reflections of the first light beams from the surface are received for generating electric
A contour measuring apparatus to measure the three-dimensional contour of a surface, comprising: a multi-point light source to direct a plurality of individual light beams each corresponding to individual light points of the multi-point light source onto the surface being measured; said multi-point
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