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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0491785 (1990-03-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 14 |
Electro-optic probes which are adapted to be placed in the fringe field from electrical signals propagating on conductors (which may be conductors of an integrated circuit) and which modulate optical pulses passing therethrough, for example by modulating the polarization of the light in accordance w
An electro-optic electrical field probe for measuring an electrical signal which produces a field comprising a body of electro-optic material which changes polarization of light passing therethrough in accordance with the Pockels effect and which comprises a body of semi-conductor electro-optic mate
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