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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0401619 (1989-08-31) |
우선권정보 | JP-0222355 (1988-09-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 16 인용 특허 : 6 |
An enlargement projection type exposure method includes the steps of deforming the shape of a substrate so as to eliminate distortion in an enlarged image of the pattern, which is formed on a mask and projected onto the substrate through an enlargement projection system. The pattern is exposed with
An enlargement projection type exposure method comprising the steps of: a. projecting a circuit pattern of a mask through a lens system onto a substrate before exposure to form a pattern; b. comparing the projected pattern on the substrate with design values therefor; c. measuring an image distortio
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