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Method and apparatus to simultaneously measure emissivities and thermodynamic temperatures of remote objects 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/58
  • G01J-005/10
  • G01K-007/00
출원번호 US-0422644 (1989-10-17)
발명자 / 주소
  • Krishnan Shankar (Arlington Heights IL) Hansen George P. (Austin TX) Hauge Robert H. (Houston TX) Margrave John L. (Houston TX) Rey Charles A. (Riverwoods IL)
출원인 / 주소
  • Houston Advanced Research Center (The Woodlands TX 02)
인용정보 피인용 횟수 : 25  인용 특허 : 6

초록

Method and apparatus for accurately and instantaneously determining the thermodynamic temperature of remote objects by continuous determination of the emissivity, the reflectivity, and optical constants, as well as the apparent or brightness temperature of the sample with a single instrument. The em

대표청구항

Apparatus for measurement of the thermodynamic temperature of a radiating object comprising a light source means of given wavelength for reflecting a beam of light off the object at a given angle, means for interrupting said beam of light, detector means for receiving radiation from said object comp

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Stein Alexander (Secaucus NJ), Apparatus for remote measurement of temperatures.
  2. Nulman Jaim (Palo Alto CA) Bacile Nick J. (San Jose CA) Blonigan Wendell T. (Sunnyvale CA), Emissivity correction apparatus and method.
  3. Rosencwaig Allan (92 Royal Drive Apt. 338 Piscataway NJ 08854), Methods and means for analyzing substances.
  4. Fukuda Norisuke (Tokyo JPX) Mori Leo (Yokohama JPX), Microwave oven.
  5. Elleman Daniel D. (San Marino CA) Allen James L. (La Crescenta CA) Lee Mark C. (Rockville MD), Noncontact temperature pattern measuring device.
  6. Anderson, Alan S., Temperature measuring apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (25)

  1. Yam Mark ; Hunter Aaron M., Apparatus and method for measuring substrate temperature.
  2. Jennings Dean, Apparatus and methods for measuring substrate temperature.
  3. Adams Bruce ; Hunter Aaron ; Rubinchik Alex ; Yam Mark ; O'Brien Paul A., Apparatus for substrate temperature measurement using a reflecting cavity and detector.
  4. Hillis, W. Daniel; Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Wood, Jr., Lowell L., Augmented photo-detector filter.
  5. O'Neill James Anthony ; Singh Jyothi, Combined emissivity and radiance measurement for determination of temperature of radiant object.
  6. O'Neill James Anthony ; Singh Jyothi, Combined emissivity and radiance measurement for the determination of the temperature of a radiant object.
  7. Bevan,Edward James; Briggs,Max Michael; DiDomenico,John; Gedridge, Jr.,Robert W., Compact emissivity and temperature measuring infrared detector.
  8. Rentmeister, Sara; Evers-Senne, Jan-Friso, Device for non-contact temperature measurement and temperature measurement method.
  9. Salem,Leslie; Zeiler,Eitan; Govrin,Omri, Emissivity-independent silicon surface temperature measurement.
  10. Seitz, Peter, Imaging pyrometer.
  11. Hillis, W. Daniel; Myhrvold, Nathan P.; Wood, Jr., Lowell L., Intensity detector circuitry using a cascade of gain elements.
  12. Peuse Bruce W. ; Miner Gary E. ; Yam Mark ; Hunter Aaron ; Knoot Peter ; Mershon Jason, Method and apparatus for measuring substrate temperatures.
  13. Peuse Bruce W. ; Miner Gary E. ; Yam Mark, Method of calibrating a temperature measurement system.
  14. Thundat Thomas G. ; Oden Patrick I. ; Datskos Panagiotis G., Non-contact passive temperature measuring system and method of operation using micro-mechanical sensors.
  15. Hillis, W. Daniel; Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Wood, Jr., Lowell L., Photo-detector filter.
  16. Hillis, W. Daniel; Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Wood, Jr., Lowell L., Photo-detector filter having a cascaded low noise amplifier.
  17. Hillis, W. Daniel; Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Wood, Jr., Lowell L., Photo-detector filter having a cascaded low noise amplifier.
  18. Hillis, W. Daniel; Hyde, Roderick A.; Myhrvold, Nathan P.; Wood, Jr., Lowell L., Photo-detector filter having a cascaded low noise amplifier.
  19. Hillis,W. Daniel; Hyde,Roderick A.; Myhrvold,Nathan P.; Wood, Jr.,Lowell L., Photo-detector filter having a cascaded low noise amplifier.
  20. Pfitzner, Dieter; Hesse, Tim; Magg, Winfried, Process monitoring the processing of a material.
  21. Newman, J. Daniel; Lee, Paul P.; Knappenberger, Eric J.; Simmons, Rulon; Cropper, Andre Dominic, Spectral polarimetric image detection and analysis methods and apparatus.
  22. Barron, Jr., William R.; Larrick, Thomas, System and method for non-contact temperature sensing.
  23. Aderhold Wolfgang ; Mayur Abhilash J. ; Knoot Peter A., Tuning a substrate temperature measurement system.
  24. Shah, Lawrence; Fermann, Martin E., Ultrashort laser micro-texture printing.
  25. Shah, Lawrence; Fermann, Martin E., Ultrashort laser micro-texture printing.
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